Процессы устойчивого развития контрактного производства электроники в условиях закрытых и открытых инноваций Текст научной статьи по специальности «Экономика и бизнес»

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

1. http ://mon. gov.ru/pro/niu/;

2. Протокол заседания рабочей группы по развитию частно-государственного партнерства в инновационной сфере Минобрнауки от 17 декабря 2010 года № ИР - 14/пр;

3. http://правительство.рф/gov/results/10233/;

4. Твисс Б. Управление научно - техническими нововведениями: сокр. пер. с англ. / Б.Твисс. М.: Экономика, 1989. 271 с.

5. Козырев Н. Оценка интеллектуальной собственности / Н. Козырев. М.: Экспертное бюро-М, 1997. 289 с.

6. Саати Т. Аналитическое планирование. Организация систем / Т. Саати, А. Кернс. М.: Радио и связь, 1991. 224 с.

7. Азгальдов Г.Г. О квалиметрии / Г.Г. Азгаль-дов, Э.П. Райхман. М.: Издательство стандартов, 1973. 172 с.

8. Азгальдов Г.Г. Теория и практика оценки качества товаров / Г.Г. Азгальдов. М.: Экономика, 1982. 243 с.

9. http://base.consultant.ru/cons/cgi/online.cgi?req= doc;base=LAW;n=90201;

УДК 339.146

Г.И. Коршунов

ПРОЦЕССЫ УСТОЙЧИВОГО РАЗВИТИЯ КОНТРАКТНОГО ПРОИЗВОДСТВА ЭЛЕКТРОНИКИ В УСЛОВИЯХ ЗАКРЫТЫХ И ОТКРЫТЫХ ИННОВАЦИЙ

Технологические изменения и глобальные инновационные индексы - основа и индикаторы мирового развития. Электронная отрасль является как рынком для инноваций, возникающих в процессе фундаментальных исследований, так и источником инноваций для создания аппаратно-программных средств приборов и систем. Основой, определяющей развитие этой и других отраслей мировой экономики, являются процессы, названные в [1] технологическими изменениями. Глобальные инновационные технологические изменения, первично возникающие в развитых странах, в первую очередь - в США, передаются в другие страны, вызывая волну замещающих и улучшающих инноваций. Для развитых рыночных отношений все более заметным фактором развития стали общее инновационное пространство, демократизация инноваций [2] и парадигма открытых инноваций [3]. Для российских предприятий такие возможности не представлены в полной мере, поэтому актуальны задачи выбора стратегии развития предприятия, методов и инструментов инноватики, применения как формальных, так и неформальных методов

обеспечения устойчивого развития и конкурентноспособности.

Проблемы принятия решений в процессе развития особенно характерны для предприятий аутсорсинга. Контрактное производство электроники (аутсорсинг) представляет собой наиболее динамичную модель предприятия электронной отрасли. В [4] на примере такого предприятия показано, как учет инновационных процессов и переход от концепции постоянного улучшения СМК к концепции постоянного развития, включение инновационной составляющей в бизнес-процессы СМК обеспечивают правильность и своевременность анализа потенциальных заказов, выполнение разработок, замены технологий, поставки компонентов, обучения кадров. Для такого рода процессов развития характерна линейная модель закрытых инноваций. Принятие решений осуществляется на основе анализа последовательности стадий жизненного цикла [5].

Дальнейшее обеспечение конкурентоспособности и необходимость интеграции предприятия в процессы развития мировой экономики заставляют глубже проанализировать

сопутствующие инновационные процессы. В области развития элементной базы электроники это включает прогноз развития и достоверное определение ее качества (выделение контрафактной продукции, тестирование элементов), в области технологий - постоянное обновление процессов и оборудования, в области поставки компонентов - решение задач логистики, в области стандартизации и сертификации - обеспечение соответствия мировым стандартам. Решение такого широкого круга задач непосильно и нецелесообразно для одного предприятия, поэтому в качестве альтернативы должны применяться открытые инновации [3].

Модель закрытых инноваций. При использовании традиционной вертикальной интеграционной модели (линейной модели) конкурентное преимущество компаний достигается за счет разработки собственной технологии, используемой для создания новых продуктов.

Для традиционных инноваций в [6] изложен метод управления качеством инновационных проектов, основанный на их типизации и моделировании в пространстве параметров. Типизация основывалась на повторяемости свойств у некоторых инновационных проектов (ИП). Эти свойства были сгруппированы по ряду признаков для выделения типов ИП (ТИП), а также формирования новых ТИП.

Для обеспечения эффективного управления ИП на основе выбора ТИП были сформулированы необходимые и достаточные условия: множество минимально - необходимых ТИП; учет накопленных в БД свойств и параметров ИП, интегрируемость с выбранной системой метрик эффективности (СМЭ).

Моделирование ТИП осуществлялось на основе интеграции методов инноваций с методологиями развития (МИ с МР). В работе [7] приведены 55 таких наиболее употребляемых методов и инструментов инноватики. Методологии развития (МР) - это стратегические подходы развития и совершенствования продуктов/услуг (Lean, Six Sigma, Kaizen, и другие). Интеграция МИ с МР необходима не только для гармоничного внедрения новых методов в традиционно принятые стратегии, но и для формирования сущностей и описания структур планирования ИП, из которого состоит шаблон

ТИП. Предложенные методики позволяют определить структуру и свойства основных шаблонов (Рис.1), которые затем можно эффективно адаптировать к новому проекту.

База данных шаблона ТИП, наряду с текстовым описанием данного типового проекта (1) и диаграммой интеграции методов (2), содержит типовой план выполнения проекта (Project roadmap) (3), с распределением соответствующих фаз и методов, и с учетом типовых требований и условий. Каждому ТИП присваивается соответствующая СМЭ, которая состоит из индивидуальных списков критериев, определяющих четыре признака метрических пространств для оценки качества и управления выполнения ИП. Предложенная типизация инновационных проектов основывается на организации баз данных с типовыми решениями верхнего уровня управления, что позволяет повысить производительность выполнения, обеспечить системность подхода, которую в свою очередь, дает возможность более объективного учета факторов, и создает предпосылки оптимизации управления отдельным ИП, так и создания оптимальной стратегии в инновационной деятельности.

Применение известных принципов оптимизации [8] совместно с изложенными результатами позволяет, при выполнении ряда дополнительных условий, создать условия для направленного движения процесса управления ИП к оптимальному режиму.

Критерии и их признаки формируют отдельные функции. Количество таких функций может ограничиваться потребностями ИП для процессов управления и оценки [6]. Каждому процессу присваивается метрическое пространство: пространство управления C: (R, L) -это расстояние между признаками ресурсов и ограничений; пространство оценки E: (A, H) -это расстояние между признаками преимуществ и рисков.

Применительно к жизненному циклу ИП управление качеством включает идентификацию несоответствий и выработку управляющих решений. Как показано на рис.2, четырехфаз-ный цикл от процесса идентификации несоответствий до процесса выработки направлений решений (обозначенный вращающими стрелками), может иметь место на любом из пяти

стадий ЖЦ ИП. Участки инновационного процесса обозначены семью контрольными точками обеспечения качества.

Для формализации процесса управления качеством ИП в [6] предложена система критериальных оценок.

Критерий качества продукции ИП представлен как функция от показателей трех фаз ИП (подготовка, выполнение, завершение):

Ки = ^ (Хки>) (1)

Где: Хк ] ,1 - скалярное произведение двух состояний Е и С; к=3 - число фаз ИП; ]=1.. .М -число стадий ЖЦ ИП; ¡=1.. .К - число критических точек.

На фазе подготовки ИП частный критерий представлен как:

х1 и = Е Е е1 ¿сИ (2)

] =1...Ы1 =1...Ы

где: {е1},г} = Е1},г - множество значений метрики оценки (расстояния между признаками преимуществ «А» и рисков «Н»);

{с1 ],(} = С1 ],( - множество значений метрики управления (расстояния между признаками ресурсов «Я» и ограничений «Ь»);

На фазе выполнения и завершения ИП: X2jJ и хвычисляются аналогично по формуле (2).

ч. eMl eMi e-\lN J

С1 г- Clj ■■■ сш

C2i C2j " C2M

NM J ¡•1...N

SeMicm

f-L..Jf /

Рассмотрим частные случаи применения формулы (2):

1. X1 j,i представляет собой произведение

матрицы строки E\,г на матрицу столбец C\,г, т.к. их размерность определена выбором первой стадии ЖЦ ИП.

2. X л представляет собой преобразованное произведение матрицы E2 j,i на матрицу C2 j,i (размерность матриц M x N).

X2 ■ ■

Для того, чтобы найти j ,i , необходимо просуммировать элементы диагонали последней матрицы-произведения:

x 2j= E E ejic«= E ejic«

j = 1... M i =1... N i=1... N

j = 1... M

3. X3j,i представляет собой произведение

матрицы строки E 5,i на матрицу столбец C 5,i, т.к. их размерность определена выбором последней (пятой) стадии ЖЦ ИП.

При использовании данного подхода в проектах развития продуктов компании электронного аутсорсинга были применены следующие варианты вычисления показателей и условия выборки контрольных точек:

K j t = X 2 j,i — X '1,1 (текущий показатель);

K . i = X 35,7 — X\,1

J

(итоговый показатель);

K . . = X '1,1 + X 2 j,i + X 35,7 j,i J

(суммарный показатель).

На основе предложенных критериальных оценок и математических методов пошаговой оптимизации [9] были успешно решены задачи обновления технологии автоматиче-ского печатного монтажа на основе лучших мировых образцов (линия включает 2 авто-мата установщика ASSEMBLEON MG - 1, принтер трафаретной печати MPM Momentum, конвекционную печь оплавле-ния OmniMax 10, автоматическую оптиче-скую инспекцию CyberOptics Ultra Flex 12HR, конвейерное оборудование NUTEK), значительного снижения дефектов и повы-шения конкурентоспособности (по критерию «цена одной пайки»).

v CN\ N1

i.l.jV

¡-¡..Л

Прорывные I Краткосрочные I Среднесрочные I Долгосрочные !

Замещающие

Краткосрочные

Среднесрочные I Долгосрочные I

У л у ч I

j a to щ и е

Краткосрочные проекты (до 1го года)

Среднесрочные проекты (до 3-х лет)

Долгосрочные проекты (свыше 5 лет)

Дескриптор ИП

(цели, задачи, методы и инструменты, возможности интеграции МИ с MP. характеристики промежуточных и конечных результатов, и т.д.)

Образец ДИР

Сп«рации MP—(горизонтальный процесс)

Идеальный Результат (И3) Методы МИ - (вертикальное движение)

' ^ ' Блок-схема планирования ИП

МИ1

©

Образец СМЭ

Два метрических пространства с типовыми

■^eMT""'"" крит'ри<"5:™'!н"и

МЩ- MMi Mk^ Mi^-

щщ ^li

Рис. 1. Обобщенная структура и описание данных шаблона ТИП

Рис. 2. Структурная схема процессов ЖЦ ИП

Этому предшествовала систематическая работа по постоянному совершенствованию СМК предприятия (органы по сертификации -IQNet и Тест-СПб) и по соответствию технологии международным требованиям на основе американского стандарта IPC-A-610C «Acceptability for Electronic Assemblies». Стратегия дальнейшего устойчивого развития предприятия в условиях российского рынка и вступления в ВТО включают решение следующих задач: 1) постоянное обновление про-

цессов и оборудования в области технологий; 2) прогноз развития, достоверное определение качества элементной базы, прямые поставки компонентов; 3) обеспечение соответствия мировым стандартам и тенденциям в области стандартизации и сертификации. Приоритет устойчивой бизнес-модели предприятия, а не первенства на рынке, приводит к необходимости использования парадигмы открытых инноваций и инновационного аутсорсинга. Отличительными чертами открытых

инноваций являются, эффективное использование как внутренних, так и внешних идей, знаний и разработок, смещение инновационной

деятельности компаний в сторону сотрудничества и совместных разработок.

Рис. 3 Фотографии лицевой стороны корпуса бракованной (слева) и оригинальной (справа) микросхем СУ7С5310Ь - 64А1.

Рис. 4. Изображение кристалла ИМС снятое с помощью растрового электронного микроскопа.

В области технологий это достигается процессами мониторинга инноваций и постоянными связями с мировыми лидерами (фирмы Philips, Samsung).

В области элементной базы элементы открытых инноваций состоят как в применении специализированной аналитической аппаратуры центров коллективного пользования на базе ведущих университетов и организаций россий-

ской академии наук для идентификации сертифицированных и контрафактных компонентов, так и создания собственной технической базы для тестирования характеристик элементов (при входном контроле) и изделий в целом. Опыт работы по выделению контрафактной продукции выявил необходимость применения рентгеновской аппаратуры, оптического, растрового электронного микроскопа и микроана-

лизатора.

Анализу были подвергнуты микросхемы СУ7С5310Ь - 64А1 - одна из оригинальной (исправной) партии и из бракованной партии.

Внешний вид микросхем в пластмассовом корпусе был снят с помощью сканера HP Scanjet 4890 на рис. 3.

|КУ 30.0 MAG 6515 TILT 0.0 MICRONSPERPIXY0.049

а.

Металлизация включает в себя: титан, азот, вольфрам и алюминий.

\KV 30.0 MAG 6515 TILT 0.0 MICRONSPERPIXY0.049

c:\ed 2.2 -л 1.7 - 1.3 - К Cut 0.» -0.4 - ix32 genesis genmaps.spc 26-Apr-201016:33:42 LSecs : 60 SiKa OKa If Ka

0.50 1.00 1.50 7.00 2.50 3.00 3.50 4.00 4.50 5.00 5.50 6.00 6.50 Energy ■ keV

Ь.

Защитное покрытие включает в себя кремний, азот и кислород. Рис. 5. Изображение и спектрограмма оригинального кристалла

\КУ 30.0 МАО 6516 ТИТ 0.0 М1СЯОтРЕКР1ХТ0.049

4,2 -

КС1Л

I_™

0.00 4.00 в.00 12.00 П.О

Епегуу - к с У

20.00 24.00 20.00

а. Защитное покрытие включает в себя кремний и кислород

КУ 30.0 МАО 6516 ТИТ 0.0 МТСИОШРЕЫ>ТХ1'0.049

Ь. Защитное покрытие включает в себя кремний и кислород. Рис. 6. Изображение и спектрограмма бракованного кристалла

Как видно из рисунка маркировки микросхем различаются.

Далее была проведена механическая шлифовка корпуса двух бракованных и одной оригинальной микросхем (ИМС) до появления золотых проволочек, соединяющих контактные площадки кристалла ИМС с выводами на корпусе. Фотографии фрагментов оригинальной и бракованной ИМС, сделанные с помощью оптического микроскопа, показали, что они совпадают. Это говорит о том, что изготовление ИМС осуществлялось с помощью одного и того же комплекта фотошаблонов.

На рис. 4 приведено изображение кристалла

бракованной ИМС, полученное с помощью растрового электронного микроскопа. Из анализа этих изображений можно заключить, что микросхема содержит два слоя металлизации и она не планаризована.

На рис. 5, 6 приведены результаты анализа материалов структурообразующих слоев кристаллов оригинальной и бракованной ИМС СУ7С5310Ь - 64А1, полученные с помощью растрового электронного микроскопа с приставкой рентгеноспектрального анализатора. У оригинальной ИМС защитно-изолирующее покрытие двухслойное. Оно состоит из нитрида кремния и диоксида кремния. У бракован-

ной ИМС это покрытие состоит только из 8Ю2. Обе ИМС имеют металлизацию, состоящую из слоев вольфрама, нитрида титана, титана и алюминия.

Решение задача обеспечения соответствия мировым стандартам и тенденциям в области стандартизации и сертификации в области контрактного производства электроники определя-

ется как внедрением современных технологический стандартов и сертификацией СМК на соответствие документам ISO, так и созданием в этой области новых методик и стандартов в области менеджмента инноваций, необходимых для успешной работы фирмы в условиях вступления в ВТО.

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

1. Pérez C. Technological change and opportunities for development as a moving target. CEPAL Review 75. 2001. С. 109-130.

2. Hippel E. The Prevalence of User Innovation and Free Innovation Transfers: Implications for Statistical Indicators and Innovation Policy, MIT Sloan Working Papers.

3. Чесбро Г. Открытые инновации. Создание прибыльных технологий / Пер. с англ. В.Н. Егорова. М.: Поколение, 2007.

4. Коршунов Г.И., Сурыгин А.И. Обеспечение постоянного развития системы менеджмента качества в условиях контрактного производства. Научно-технические ведомости СПбГПУ. №3, 2008, стр. 91-94

5. ГОСТ Р ИСО/МЭК 15288-2005 «Системная инженерия. Процессы жизненного цикла систем»

6. Кассу А-Р. М., Коршунов Г.И. Повышение качества управления инновационными проектами на основе моделирования метрик эффективности. // Научно-технические ведомости СПбГПУ. №5(87), 2009.

7. The innovator's toolkit. 50+ Techniques for Predictable and Sustainable Organic Growth/D.Silverstain, P.Samuel, N.Decarlo. J. Wiley&Sons, Inc., Hoboken, New Jersey. 2009. 352 p.

8. Коршунов Г.И., Тисенко В.Н. Управление процессами и принятие решений: Учебно-методическое пособие // Санкт-Петербург, Издательство Политехнического университета, 2009. 230с.

9. Беллман Р., Калаба Р. Динамическое программирование и современная теория управле-ния.М., Наука, 1969. 118 с.

УДК 545.81

Л.М. Курочкин, С.К. Лавровский, Д.А. Сафронов

ТЕХНОЛОГИЧЕСКАЯ ПОДДЕРЖКА ПРЕДПРИЯТИЙ МАЛОГО

И СРЕДНЕГО БИЗНЕСА

В развитии рынка наукоемкой продукции значительная роль отводится предприятиям малого и среднего бизнеса. Это наиболее мобильная составляющая производства, наиболее демократичная с точки зрения управления, наиболее эффективная по механизму реализации инноваций. Однако, возможности поиска, приобретения или разработки инноваций у таких предприятий, по объективным причинам, ограничены. Технопарки и технополисы, центры коллективного пользования могут выступать для таких предприятий системным гаран-

том успешной реализации проекта и обеспечить охват полного инновационного цикла. Такую же роль могут выполнять консалтинговые фирмы, если строят свою работу на принципах виртуального предприятия. Важным моментом в деятельности таких образований является то, что они могут брать на себя и функции инвестиционного органа, где, наряду с традиционными, широко бы использовались инвестиции в виде накопленных знаний и технологического опыта.

Информационно-управляющая среда