УДК 621.382
А. А. Бубенников Моделирование стоимости производственного оборудования компьютеризованных минифабов СБИС
Оценка конкурентности современного кластерного производственного оборудования СБИС представляет собой очень актуальную задачу в свете всё возрастающей сложности и интеллектуальности перспективных "мегафабов" и "минифабов". В работе представлены модели, методы и алгоритмы моделирования стоимости производственного оборудования СБИС компьютеризованных полупроводниковых минифабов, использующих интеллектуальные САПР подготовки специализированного производства СБИС.
Показано, что для сравнения конкурентности того или иного производственного процессного оборудования по качеству, технологичности, стоимости, производительности под выбираемые варианты маршрутов изготовления КБИКМОП/КМОП субмикронных СБИС наиболее эффективно использовать модифицированные новейшие международные стандарты SEMI Е35-95,SEMI Е35.1-95,а также SEMI ЕЮ. Рассмотрены алгоритмы оптимизационной задачи сравнения качества и стоимости изготовления СБИС, обеспечивающих требуемый набор технико-эксплуатационных параметров, для различных типов производственного оборудования СБИС, а именно: минимизации полной стоимости производственного оборудования COO ,СОО = CEO + CYL, где CEO -стоимость собственно оборудования , CYL стоимость потерь выхода годных микросхем от влияния качества выбираемого процессного оборудования и от уровня привносимой им дефектности обрабатываемых пластин.
Используется алгоритм минимизации синтезированной целевой функции CEO, являющейся суммой двух компонент: фиксированной приведенной годовой стоимости оборудования на изготовление СБИС, СЕО(Ф),2) рекуррентной стоимости, возникающей из операционных, эксплуатационных затрат используемого оборудования CEO (Р).СЕО=СЕО (Ф) + CEO (Р).С использованием данных по отдельным аспектам технологии и экономики производства для стандартизации SEMI по модифицированным алгоритмам рассчитывались сравнительные факторы СЕО(Ф), СЕО(Р) а также CEO для конкурирующих процессных оборудований СБИС.
Представлены результаты выбора производственного процессного оборудования СБИС в рамках предложенного метода техноэкономической оптимизации целевой функции стоимостных затрат при обеспечении совокупности конкурентоспособных технико-эксплуатационных параметров микросхем.
УДК 621.382
А.Н. Бубенников, С. Б. Блинник
Программа временного адекватного макромоделирования СБИС для интеллектуальной многоуровневой САПР
Для возрастающих требований к автоматизированному интеллектуальному проектированию СБИС огромную актуальность приобретают методы адекватных экспресс-расчетов системного быстродействия фрагментов СБИС большой размерности с кардинальным уменьшением вычислительных затрат в численных экспериментах.
Представлено описание компактных и точных численно-аналитических временных моделей базовых элементоэ и фрагментов КМОП/КБИКМОП СБИС
ИзвестияТР ГУ
Тематическийвыпуск
для программ адекватного экспресс-макромоделирования с целью снижения вычислительных затрат при адекватном расчете фрагментов и собственно СБИС большой размерности.
Для расчета необходимых модельных параметров активных приборов КБИКМОПУКМОП элементов (р-МОП, п-МОП, п-р-п, р-п-р) для программы временного экспресс-макромоделирования ЕХМАСЯО использовались методы численного физико-технологического моделирования в рамках программы ФИЗ-ТЕХ-2,а также частично инженерные методы. Синтез временных макромоделей базовых элементов произведен методами редукции порядка алгебродифференциальных уравнений элементов и использования локальных линеаризаций рабочих функций и параметров.
Для оценки вычислительных затрат проведено сравнение требуемого машинного времени на расчеты и оптимизацию КМОП/КБИКМОП элементов и фрагментов из нескольких десятков вентилей ( с помощью программ Р5Р1СЕ и ЕХМАСЯО для пользуемого компьютера 1ВМ РС АТ 486/7 50 Мгц) .При приемлемой адекватности расчетов (менее 15 %) по сравнению с программой схемотехнического расчета РБРГСЕ, методы экспресс-макромоделирования уменьшают вычислительные затраты в 6-10 раз и позволяют производить анализ и оптимизацию СБИС из нескольких сотен тысяч элементов с приемлемыми вычислительными затратами (до десяти часов) без размерных ограничений, присущих программам схемотехнического расчета.
УДК 658.512
Н. Н, Карпова
Диаграммы Вирта как формальная система задания синтаксиса языка функционально-логического программирования
Для синтаксиса и автоматического построения синтаксических анализаторов программирования используются метасинтаксические языки. Выбор тех порождающих грамматик при разработке синтаксического тора, в особенности для языков, имеющих сложную синтаксическую структуру, таких как предлагаемый язык функционально-логического параллельного программирования [1].
Определение синтаксиса языка выполнено с использованием предложенного метаязыка параметрических синтаксических диаграмм Вирта (ПСДВ), представляющих собой обобщение известных синтаксических диаграмм Вирта (СДВ). Оно позволяет дать компактное представление построенных по единому принципу различных грамматических понятий языка. Из-за сложности разработки эффективных анализаторов для программных грамматик, для практического использования ПСДВ определена процедура сведения их к классическим СДВ.
Топологические структуры графов диаграмм в обеих системах одинаковы, а описание параметрической диаграммы аналогично описанию обычной диаграммы Вирта за исключением различий в заголовках и в записи весов вершин. В ходе процесса развертывания ПСДВ встроенный в преобразователь анализатор проводит как синтаксический, так и семантический контроль описаний диаграмм.
По описанию синтаксиса предлагаемого языка функционально-логического параллельного программирования, заданного системой ПСДВ, реализованы с помощью разработанных средств части компилятора, выполняющие лексический и синтаксический анализ.
Данный язык применим для различных классов задач, в том числе для задач искусственного интеллекта.