Научная статья на тему 'Остаточные напряжения и микротвердость упрочненных микрошариками образцов из сплава ЭИ698ВД'

Остаточные напряжения и микротвердость упрочненных микрошариками образцов из сплава ЭИ698ВД Текст научной статьи по специальности «Физика»

CC BY
152
42
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Аннотация научной статьи по физике, автор научной работы — Букатый А. С., Чирков А. В., Павлов В. Ф.

Исследовано влияние режимов упрочнения микрошариками на остаточные напряжения и микротвердость плоских образцов из сплава ЭИ698ВД. Установлено, что микротвердость коррелирует с величиной сжимающих остаточных напряжений на упрочненной поверхности образцов.

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Похожие темы научных работ по физике , автор научной работы — Букатый А. С., Чирков А. В., Павлов В. Ф.

iНе можете найти то, что вам нужно? Попробуйте сервис подбора литературы.
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Текст научной работы на тему «Остаточные напряжения и микротвердость упрочненных микрошариками образцов из сплава ЭИ698ВД»

Секция «Модели и методы анализа прочности, динамики и надежности конструкций КА»

учебного процесса, - студент и преподаватель. Компьютер открывает новые возможности и расширяет границы познания.

С другой стороны, широкое распространение компьютерных технологий создает виртуальную среду, в которой искажаются сложившиеся веками классические методы формирования человеческого интеллекта. Исчезает необходимость того классического «ремесленнического» этапа, который требовал значительных личных усилий в овладении приемами и навыками профессионального мастерства.

Видимая легкость получения результата зачастую формирует поверхностное отношение к обучению. Не нужно больше кропотливо разбираться в проблеме, в поставленной задаче. Могучий и услужливый Интернет с его огромными возможностями и мощным потоком практически неуправляемой информации превращает неопытного пользователя в бездумного потребителя. Результат, полученный таким образом, оказывается по существу фиктивным для того, кто им пользуется, не становится органичной частью сознания и в дальнейшем не используется активно.

Процесс обучения превращается в подобие некого «интеллектуального эскалатора», который легко

доставляет в нужный пункт, не требуя значительных личных усилий, но в конечном счете приводит к детренированности самых элементарных интеллектуальных способностей и навыков.

Сегодня высказывания известного писателя на страницах авторитетного издания (2) о том, что «уровень студенческого образования понизился чудовищно» уже никого не шокирует и не вызывает возмущенных опровержений. Это серьезный сигнал для всех, кто участвует в жизни высшей школы. Задача сбережения наработанных десятилетиями традиций и методов, ставших педагогической классикой, - важна и актуальна.

Библиографические ссылки

1. Феодосьев В. И. Десять лекций - бесед по сопротивлению материалов. М. : Наука, 1969.

2. Успенский М. Надо запретить читать... тогда люди, может, и потянутся к книгам // Аргументы и факты. 2010. № 12.

© Банщикова М. Н., Майорова А. В., Трушникова Л. В., 2010

УДК 621.787:539.319

А. С. Букатый, А. В. Чирков Научный руководитель - В. Ф. Павлов Самарский государственный аэрокосмический университет имени С. П. Королева, Самара

ОСТАТОЧНЫЕ НАПРЯЖЕНИЯ И МИКРОТВЕРДОСТЬ УПРОЧНЕННЫХ МИКРОШАРИКАМИ ОБРАЗЦОВ ИЗ СПЛАВА ЭИ698ВД

Исследовано влияние режимов упрочнения микрошариками на остаточные напряжения и микротвердость плоских образцов из сплава ЭИ698ВД. Установлено, что микротвердость коррелирует с величиной сжимающих остаточных напряжений на упрочненной поверхности образцов.

Изучалось влияние режимов упрочнения микрошариками гладких плоских образцов из сплава ЭИ698ВД на остаточные напряжения и микротвердость. Образцы толщиной 3 мм и шириной 8 мм для определения остаточных напряжений и измерения миикротвердости подвергались упрочнению стеклянными и стальными шариками при различном

давлении воздуха Р. Режимы упрочняющей обработки приведены в таблице.

Осевые остаточные напряжения стг, необходимые для прогнозирования предела выносливости упрочненных деталей [1], определялись по методике работы [2] и приведены на рисунке.

Режимы упрочнения, результаты измерения остаточных напряжений и микротвердости

№ режима упрочнения Тип шариков Р, МПа МПа тт пов «ц , МПа «стр , мм гтподсл «ц , МПа аОН , мм

1 стеклянные 0,20 -620 6 020 0,118 5 459 0,100

2 0,30 -640 6 038 0,127 5 506 0,120

3 0,40 -610 5 918 0,169 5 375 0,140

4 стальные 0,15 -440 5 813 0,178 5 615 0,150

5 0,30 -280 5 802 0,189 5 414 0,180

6 0,45 -260 5 768 0,225 5 542 0,215

7 0,60 -220 5 674 0,234 5 578 0,230

8 исходное состояние - - 5 743 0,118 5 550 -

Актуальные проблемы авиации и космонавтики. Технические науки

В образцах после шлифования (исходное состояние - эпюра 8) действовали растягивающие остаточные напряжения с максимумом 180 МПа на глубине 40 мкм. При упрочнении стеклянными шариками диаметром 0,2-0,3 мм с увеличением давления воздуха глубина залегания сжимающих остаточных напряжений увеличивается при практически неизменных максимальных значениях, достигающих 670 МПа.

200 ш

.¡по

■зон

-Son

✓ А /

/ йй /

/

/ /

ж /.} /s /'' У 7

V vK iJ2 J

гподсл Ц

- это

Осевые остаточные напряжения ст г в образцах после упрочнения (1-7) и в исходном состоянии (8). Номера эпюр соответствуют номерам режимов упрочнения таблицы

При упрочнении стальными шариками диаметром 0,18-0,5 мм толщина поверхностного слоя с сжимающими остаточными напряжениями больше, чем при упрочнении стеклянными шариками. С увеличением давления воздуха глубина залегания остаточных напряжений увеличивается при одновременном уменьшении напряжений к поверхности и смещении максимума от поверхности образца. В таблице приведены значения остаточных напряжений ст™8 на поверхности упрочненных образцов.

Была измерена микротвердость упрочненной поверхности Нцпов, а также микротвердость образцов после удаления стравленного слоя астр. В таблице

представлены средние значения микротвердости по двенадцати отпечаткам в каждом случае. Из данных таблицы следует, что толщина стравленного слоя астр при определении остаточных напряжений во

всех случаях превышает глубину смены знака остаточных напряжений аОН . В связи с этим можно

предположить, что микротвердость Н^

микротвердость ненаклепанного материала, составляющая в среднем 5 505 МПа. Следует обратить

внимание на то, что микротвердость Н™в упрочненной стеклянными шариками поверхности выше по сравнению с поверхностью, упрочненной стальными шариками.

Таким образом, проведенное исследование показало, что микротвердость поверхности упрочненных микрошариками образцов из сплава ЭИ698ВД коррелирует с величиной сжимающих остаточных напряжений - чем выше сжимающие остаточные напряжения на поверхности, тем выше микротвердость.

Библиографические ссылки

1. Павлов В. Ф., Кирпичев В. А., Иванов В. Б. Остаточные напряжения и сопротивление усталости упрочненных деталей с концентраторами напряжений : моногр. / В. Ф. Павлов, В. А. Кирпичев, В. Б. Иванов. - Самара : Изд-во СНЦ, 2008.

2. Биргер И. А. Остаточные напряжения. М. : Машгиз, 1963.

Работа выполнена при поддержке Федерального агентства по образованию (проект РНП.2.1.1/3397).

© Букатый А. С., Чирков А. В., Павлов В. Ф., 2010

УДК 629.73

И. В. Евкин, А. Б. Кузнецов, В. В. Миронович, М. М. Полевщиков, В. И. Халиманович ОАО «Информационные спутниковые системы» имени академика М. Ф. Решетнева», Железногорск

ИСПЫТАНИЯ ТЕРМОРЕГУЛИРУЮЩИХ ПОКРЫТИЙ В НАТУРНЫХ УСЛОВИЯХ В ОБЕСПЕЧЕНИЕ ТЕПЛОВЫХ РЕЖИМОВ ПРИБОРОВ И УЗЛОВ КОСМИЧЕСКИХ АППАРАТОВ

Оценена необходимость проведения испытаний терморегулирующих покрытий (ТРП) в натурных условиях и представлена методика данных испытаний.

В условиях полета тепловой режим космического аппарата (КА) определяется балансом тепла поглощенного электромагнитного излучения (ЭМИ) Солнца, тепла выделяемого работой узлов, полезной нагрузкой и излучением его в космическое пространство через радиационные поверхности системы терморегулирования (СТР) КА.

Для получения заданных характеристик радиационных поверхностей системы СТР применяются спе-

циальные ТРП с контролируемыми оптическими характеристиками - коэффициентом поглощения солнечного излучения Лб и коэффициентом излучения Еп. В условиях космического пространства на ТРП действуют такие повреждающие факторы космического пространства (ПФКП) как вакуум, температура, УФ - излучение Солнца, протоны и электроны радиационных поясов Земли (РПЗ), собственная внешняя атмосфера (СВА) КА. Воздействие ПФКП приво-

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.