Научная статья на тему 'Ненадёжность схем при константных неисправностях на входах и выходах элементов'

Ненадёжность схем при константных неисправностях на входах и выходах элементов Текст научной статьи по специальности «Математика»

CC BY
3776
108
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.
Ключевые слова
НЕНАДЁЖНЫЕ ФУНКЦИОНАЛЬНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ / UNRELIABLE FUNCTIONAL GATES / НЕНАДЁЖНОСТЬ СХЕМЫ / UNRELIABILITY OF CIRCUITS / CONSTANT FAILURES / КОНСТАНТНЫЕ НЕИСПРАВНОСТИ

Аннотация научной статьи по математике, автор научной работы — Алехина Марина Анатольевна

Рассматривается реализация булевых функций схемами из ненадёжных функциональных элементов в базисе, содержащем только штрих Шеффера. Предполагается, что каждый из элементов схемы подвержен неисправностям типа 0 или типа 1 на входах или выходах (с различными вероятностями). Получена верхняя асимптотическая оценка ненадёжности этих схем. Для почти любой булевой функции найдена нижняя асимптотическая оценка ненадёжности, и обе асимптотические оценки оказались равны.

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Похожие темы научных работ по математике , автор научной работы — Алехина Марина Анатольевна

iНе можете найти то, что вам нужно? Попробуйте сервис подбора литературы.
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Unreliability of circuits in case of constant failures on inputs and outputs of gates

We consider the implementation of Boolean functions by circuits of unreliable functional elements in the basis containing only Sheffer stroke. It is assumed that each of the circuit elements is exposed to type 0 or type 1 failures in its inputs and outputs with probabilities 70 or y 1 and e 0 or e 1 respectively. It is shown that any Boolean function can be so implemented by a such circuit that the asymptotic estimate of its unreliability is no more than 2e 0 + 2y 0 + e 1 + 2y 2 00 for 7 0,7 1,e 0,e 1 ^ 0. This estimation is achieved for functions f е U K(n) where K(n) is _ n=1 the set of all Boolean functions x^ V h and xj Л h for i е {1,..., n} and h an arbitrary Boolean function of variables x 1,..., x n.

Текст научной работы на тему «Ненадёжность схем при константных неисправностях на входах и выходах элементов»

ПРИКЛАДНАЯ ДИСКРЕТНАЯ МАТЕМАТИКА

№8 ПРИЛОЖЕНИЕ Сентябрь 2015

Секция 5

МАТЕМАТИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ НАДЁЖНОСТИ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ И УПРАВЛЯЮЩИХ СИСТЕМ

УДК 519.718 Б01 10.17223/2226308X/8/37

НЕНАДЁЖНОСТЬ СХЕМ ПРИ КОНСТАНТНЫХ НЕИСПРАВНОСТЯХ НА ВХОДАХ И ВЫХОДАХ ЭЛЕМЕНТОВ1

М. А. Алехина

Рассматривается реализация булевых функций схемами из ненадёжных функциональных элементов в базисе, содержащем только штрих Шеффера. Предполагается, что каждый из элементов схемы подвержен неисправностям типа 0 или типа 1 на входах или выходах (с различными вероятностями). Получена верхняя асимптотическая оценка ненадёжности этих схем. Для почти любой булевой функции найдена нижняя асимптотическая оценка ненадёжности, и обе асимптотические оценки оказались равны.

Ключевые слова: ненадёжные функциональные элементы, ненадёжность схемы, константные неисправности.

Впервые задачу синтеза надёжных схем из ненадёжных функциональных элементов рассматривал Дж. фон Нейман [1]. Он также предполагал, что все базисные элементы подвержены инверсным неисправностям на выходах и переходят в неисправные состояния независимо друг от друга. Задача синтеза надёжных схем при константных неисправностях одного типа (например, только типа 0 на входах элементов) решена в базисах из двухвходовых элементов [2]. В [3] приведены результаты о ненадёжности схем при инверсных неисправностях и отказах элементов. В этой работе впервые исследуется модель, в которой каждый элемент схемы может быть подвержен константным неисправностям четырёх типов: типа 0 или типа 1 на входах или выходах (с различными вероятностями). Заметим также, что инверсные неисправности элементов являются частным случаем в рассматриваемой модели неисправностей.

Рассмотрим реализацию булевых функций схемами из ненадёжных функциональных элементов в базисе {х|у} (где х|у = х&у — штрих Шеффера). Схема из ненадёжных элементов реализует функцию f (х\,... ,хп) (п Е М), если при поступлении на входы схемы набора ап = (а\,... , ап) при отсутствии неисправностей в схеме на её выходе появляется значение f (ап). Предполагаем, что в каждый такт работы схемы на любом из входов и выходе любого из её элементов независимым образом могут происходить константные неисправности: типа 0 на входах с вероятностью 70 Е (0,1/8), или типа 1 на входах с вероятностью 71 Е (0, 1 /4), или типа 0 на выходах с вероятностью е0 Е (0,1/4), или типа 1 на выходах с вероятностью е1 Е (0,1/4).

Неисправности типа 0 на входах элементов характеризуются тем, что в исправном состоянии функциональный элемент реализует функцию х| у, а в неисправном поступающий на его вход нуль не искажается, а поступающая на вход единица с ве-

1 Работа поддержана грантом РФФИ, проект №14-01-00273.

Математические основы надёжности вычислительных и управляющих систем

101

роятностью 70 может превратиться в нуль. Аналогично определяются неисправности типа 1 на входах.

Неисправности типа 0 на выходах элементов характеризуются тем, что в исправном состоянии функциональный элемент реализует функцию х|у, а в неисправном — с вероятностью £0 константу 0. Аналогично определяются неисправности типа 1 на выходах.

Пусть схема 5 реализует булеву функцию f (Хп). Обозначим через Р/(аП)(Б, ап) вероятность появления значения f (ап) на выходе схемы Б при входном наборе ап. Ненадёжность Р(Б) схемы Б определяется как максимальное из чисел Р/а^Б, ап) по всем входным наборам ап схемы Б. Надёжность схемы Б равна 1 — Р(Б).

Учитывая характер рассматриваемых неисправностей, вычислим вероятности появления ошибок на выходе базисного элемента Е при всех входных наборах этого элемента: Ро(Е, (00)) = 72(1 — £1) + (1 — 72)£о, Ро(Е, (01)) = Ро(Е, (10)) = 71(1 — 7о)(1 — — £1) + (1 — 71(1 — 7о))£о, Р1(Е, (11)) = (1 — 7о)2£1 + (27о — 7о2)(1 — £о).

Замечание 1. Отметим, что 1) если 7о = 71 = £1 = 0, то получим неисправности типа 0 на выходах элементов с вероятностью £0; 2) если 70 = 71 = £0 = 0, то получим неисправности типа 1 на выходах элементов с вероятностью £1; 3) если 71 = £1 = = £о = 0, то получим неисправности типа 0 на входах элементов с вероятностью 70; 4) если 70 = £1 = £0 = 0, то получим неисправности типа 1 на входах элементов с вероятностью 71; кроме того 5) если 70 = 71 = 0 и £0 = £1, то получим инверсные неисправности на выходах элементов с вероятностью £0; 6) если 70 = 71 и £0 = £1 = 0, то получим инверсные неисправности на входах элементов с вероятностью 70.

Обозначим Ро(Е, (00)),Ро(Е, (01)),Ро(Е, (10)),Р1(Е, (11)) через а,вДт соответственно. Поскольку в нашем случае в = ненадёжность элемента Е равна Р(Е) = = шах{а, в, т} ^ шах(71 + £0, 270 + £1}. Обозначим через £ = шах(71 + £0, 270 + £1}. Очевидно, что Р(Е) ^ £.

Справедлива теорема 1 об асимптотической верхней оценке ненадёжности схем.

Теорема 1. Любую булеву функцию можно реализовать схемой, ненадёжность которой асимптотически не больше, чем 2£0 + 272 + 270 + £1 при 70,71, £0, £1 ^ 0.

Доказательство такое же, как и в случае, когда базисный элемент подвержен только одному типу неисправностей.

Пусть Л,(жп) —произвольная булева функция, а К(п) —множество булевых функций вида f (Хп) = (х V Л,(жп))а, где г Е {1,... , п}; а Е {0,1}. Нетрудно проверить, что число функций в классе К(п) не больше 2п22" , что мало по сравнению с общим чис-

оо

лом 22 булевых функций от п переменных. Обозначим К = и К(п). Справедлива

п=1

теорема 2 об асимптотической нижней оценке ненадёжности схем.

Теорема 2. Если функция f Е К, а Б — любая схема, реализующая f, то ненадёжность Р(Б) схемы Б асимптотически не меньше, чем 2£0 + 270 + £1 + 272 при 7о,71,£о,£1 ^ 0.

Доказательство такое же, как и в случае, когда базисный элемент подвержен только одному типу неисправностей.

Выводы:

1) любую булеву функцию можно реализовать схемой, ненадёжность которой асимптотически не больше 2£0 + 270 + £1 + 272 при 70,71, £0,£1 ^ 0;

102

Прикладная дискретная математика. Приложение

2) для почти любой функции f (f Е K) такая схема функционирует с ненадёжностью, асимптотически равной 2е0 + 2y0 + е1 + 2y2 при 70,71,£o,£i ^ 0, т.е. оценку 2е0 + 2y0 + е1 + 2y2 нельзя понизить для функций f Е K.

ЛИТЕРАТУРА

1. Von Neuman J. Probabilistic logics and the synthesis of reliable organisms from unreliable components // Automata Studies. C. Shannon and J. Mc. Carthy (eds). Princeton University Press, 1956. (Рус. пер.: Автоматы. М.: ИЛ, 1956.)

2. Алехина М. А. Синтез асимптотически оптимальных по надёжности схем. Пенза: ИИЦ ПГУ, 2006. 156 с.

3. Алехина М. А, Барсукова О. Ю. Об оценках ненадёжности схем при инверсных неисправностях и отказах функциональных элементов // Прикладная дискретная математика. Приложение. 2013. №6. С. 50-51.

УДК 519.718 DOI 10.17223/2226308X/8/38

НИЖНЯЯ ОЦЕНКА НЕНАДЁЖНОСТИ СХЕМ В БАЗИСЕ, СОСТОЯЩЕМ ИЗ ФУНКЦИИ ВЕББА1

М. А. Алехина, О. Ю. Барсукова

Рассматривается реализация функций трёхзначной логики схемами из ненадёжных функциональных элементов в базисе, состоящем из функции Вебба. Предполагается, что все базисные элементы независимо друг от друга переходят в такие неисправные состояния, что любой базисный элемент на любом входном наборе с вероятностью 1 — 2p выдаёт правильное значение и с вероятностью, равной p, может выдать любое из двух неправильных значений. Получена нижняя оценка ненадёжности схем, реализующих функции из некоторого класса.

Ключевые слова: функции трёхзначной логики, схема из ненадёжных функциональных элементов, надёжность и ненадёжность схемы.

Пусть n Е N, Р3 —множество всех функций трёхзначной логики, т.е. функций f (x1,...,xn) : {0,1,2}n ^ {0,1,2}. Обозначим через x набор (x1,...,xn), тогда

f (x1,...,xn) = f (x).

Рассмотрим реализацию функций из множества Р3 схемами из ненадёжных функциональных элементов в базисе, состоящем из функции Вебба V3(x1,x2) = = (max(x1,x2) + 1) mod 3. Будем считать, что схема из ненадёжных элементов реализует функцию f (x), если при поступлении на входы схемы набора а при отсутствии неисправностей в схеме на её выходе появляется значение f (а).

Предполагается, что все базисные элементы ненадёжны, переходят в неисправные состояния независимо друг от друга, подвержены инверсным неисправностям на выходах. Эти неисправности характеризуются тем, что на произвольном входном наборе (а1,а2) базисного элемента, V3(a1,a2) = v, этот элемент с вероятностью 1 — 2е (е Е (0,1/4)) выдаёт значение v, с вероятностью е — значение (v + 1) mod 3 и с вероятностью е — значение (v + 2) mod 3.

Пусть схема S реализует функцию f (x), а — произвольный входной набор схемы S, f (а) = т. Обозначим через Pf (й)=т (S, а) вероятность появления ошибки на выходе схемы S при входном наборе а. Ясно, что Pf(й)=т(S, а) = Рт+1(S, а) + Рт+2(S, а). Например,

1 Работа поддержана грантами РФФИ №14-01-00273 и 14-01-31360.

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.