ФИЗИКА
Вестник Ом. ун-та. 2010. № 2. С. 44-48.
УДК 539.612
М.В. Мамонова, Г.И. Ващенко, С.П. Климов
Омский государственный университет им. Ф. М. Достоевского
ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ ЭФФЕКТОВ ТЕПЛОВОГО РАСШИРЕНИЯ НА АКТИВИРОВАННУЮ АДСОРБЦИЮ МАГНИТНЫХ ИОНОВ РЕ, СО И N1 НА ПОВЕРХНОСТИ Си(110)
С помощью метода спиновой плотности были проведены вычисления характеристик актированной адсорбции магнитных ионов на медной подложке. Изучено влияние термического расширения в металлах на адсорбционные характеристики.
Ключевые слова: активированная адсорбция, тепловое расширение, тонкие ферромагнитные плёнки.
Изучение физических свойств ультратонких ферромагнитных пленок актуально с точки зрения их практического применения в микроэлектронике и вычислительной технике. Наряду с этим изучение физических свойств ферромагнитных пленок носит фундаментальный характер, обусловливая как развитие физики магнитных явлений, так и физики поверхностных явлений. К настоящему времени изучению магнитного упорядочения в ультратонких пленках Ре, Со, N1 посвящено множество экспериментальных работ, в которых установлено, что при некоторой эффективной толщине пленок в них устанавливается дальний ферромагнитный порядок. В работе [1], посвящённой теоретическому исследованию данных процессов, выявлены изменения энергетических характеристик адсорбции вследствие температурной зависимости намагниченности ферромагнитной плёнки. С ростом температуры необходимо принимать во внимание такое свойство материалов, как расширение линейных и объёмных размеров. Целью данной работы является исследование влияния эффектов теплового расширения на адсорбцию магнитных ионов переходных металлов Ре, Со, N1 на парамагнитной металлической поверхности Си в условиях, когда имеет место магнитное упорядочение в плёнке.
Рассмотрим полубесконечный металл со средней плотностью заряда П1, ограниченный бесконечной плоской поверхностью и занимающий область г^<-Б-1. Пленка адсорбата с плотностью заряда пз толщиной Н занимает область 0<2^<0+Н. В результате процессов взаимного перемешивания атомов адсорбата и субстрата, характерных для активированной адсорбции, поверхность подложки подвергается различным реконструкциям. Наиболее значительную реконструкцию испытывает первый приповерхностный слой подложки. Поэтому этот слой выделен в отдельную область с средней плотностью заряда П2 и толщиной I. Между пленкой и подложкой в данной модели задается вакуумный зазор шириной 2Б.
© М.В. Мамонова, Г.И. Ващенко, С.П. Климов, 2010
Положительный заряд фона, таким образом, оказывается распределенным в соответствии с формулой:
п0 (г) = п1 0(-2 - D - і) + п2 0(2+D+ї)6(-2 - D) + +т3 0(2 - D)0(D+Ъ - 2).
(1)
Выражение для плотности электронного распределения в системе п(г) при
связи р(г) = -4пп(г)/ в , где в - вариационный параметр, было получено в [1] из решения линеаризованного уравнения Томаса-Ферми с использованием граничных условий, отражающих непрерывность потенциала р(г) и его первой производной йр / йг при 2=-Б-1, 2=±Б и 2=Б+к, а также конечность потенциала при г ^ ±со .
В магнитоупорядоченном состоянии в металлах происходит перераспределение электронов по одночастичным состояниям за счет влияния возникающего внутреннего магнитного поля обменной природы [2]. При этом электронная плотность квазичастиц со спином «вверх» п+ оказывается отличной от электронной плотности квазичастиц со спином «вниз» п-. Эти плотности п+ и п- могут быть выражены через относительную намагниченность т электронной системы следующим образом:
п+/- (г) = п( г )1±т. (2)
Относительная намагниченность т в приближении молекулярного поля может быть найдена из решения известного уравнения:
т = ВБ (3тБТс /(Б + 1)Т), (3)
определяемого функцией Бриллюэна:
п ч 2Б + 1 А2Б + 1 ] 1 А х \ ...
ВБ (х) =----сщ-------х\-----сщ— >, (4)
Б 2Б 1 2Б ] 2Б 12Б ]
где 8 - спиновый момент магнитных ионов, Тс - температура Кюри. Несмотря на то, что соотношение (4) было введено для описания магнитных свойств локализованных спинов, но в отличие от соотношений, получаемых в теории Стонера ферромагнетизма коллективизированных электронов, оно позволяет достаточно хорошо описывать наблюдаемую температурную зависимость относительной намагниченности ферромагнетиков (в частности, переходных металлов Ре, Со, N1
при спинах SFeSl.11, 5Со=0.86, $N^0.30, соответствующих эффективным дробным магнитным моментам ионов в данных металлах [2]) за исключением критической флуктуационной области и области низких температур, в которой для описания т(Т) применимо спин-волновое приближение.
Определим межфазную энергию взаимодействия, приходящуюся на единицу площади контакта, как интеграл по z от объемной плотности свободной энергии электронного газа:
| {/К -(2 Р\- / К(2)\}42.
(5)
В рамках модели «желе» объемная плотность свободной энергии неоднородного электронного газа может быть представлена в виде градиентного разложения:
/[п+/- (г)\ = ^о[и+/_ (2)\ + ^[т+/- (2),| Уи(2) |2\ +
+ ^4[п+/-(^,\ Уп(А) |4\ - Т(^ + яоЫег),
(6)
где
^о [т+/- (2)\ = ™кт + (7)
есть плотность энергии однородного электронного газа в атомных единицах, включающая последовательно кинетическую, электростатическую, обменную и корреляционную энергии, вісі , вогёег - энтропийные вклады в свободную энергию, учитывающие, соответственно, температурные изменения в энтропии для идеального электронного газа и эффекты магнитного упорядочения в электронной подсистеме [11-
Учет дискретности в распределении ионов приводит к поправкам в электростатической энергии взаимодействия как за счет ион-ионного, так и электрон-ионного взаимодействий [3]. В результате, межфазную энергию взаимодействия можно записать в виде:
& = &о + °ег (с 4, гс, т+/-) + (с 4, гс, т+/-X (8)
где 00 - вклад от электронной системы в рамках модели «желе», он - поправка к энергии электростатического взаимодействия ионов, Оєі - поправка к энергии, связанная с разностью в электростатическом взаимодействии электронов с дискретными ионами и однородным фоном «желе». Вид этих поправок приведен в [3]. В результате межфазная энергия принимает зависимость от таких параметров,
как расстояние между ближайшими ионами подложки в плоскостях, параллельных поверхности - С1, расстояние между ближайшими ионами адслоя - с2, межпло-скостное расстояние в подложке - Л, толщина адсорбированной пленки - Н, толщина приповерхностного слоя - I, радиуса обрезания псевдопотенциала Аш-крофта - Гс, которое определяется по формуле:
л/2
3
(-2.21г5 + 0.458г| +
0.0071г<4
(1 + 0.127г5 )2
(9)
+ 0.9223г2 -2.68г55Т2(Ъ) те)1/2,
где Гэ - радиус шара, занимаемого одним атомом.
Важной характеристикой металлов, наряду с электро- и теплопроводностью, является коэффициент линейного термического расширения а, зависящий от температуры плавления Тт, как от некой характеристической температуры. В качестве аналитического выражения для а в [4] предлагается использовать выражение:
2л/2
а =•
(3п)2
Т1/4т _5/4
(10)
Это выражение даёт схожую с экспериментальной зависимость от Т как для изотропных ГКЦ- и ОЦК-металлов (Ре, N1 и Си), так и для некоторых анизотропных ГПУ-металлов (Со). Учёт теплового расширения ведёт к изменению поверхностных характеристик с температурой:
Сі(Т) = с(Т = 0)(1 + а(Т )Т); ^(Т ) = 4 (Т = 0)(1 + а(Т )Т); п (Т) _ п(Т = 0) П1,2 (Т )
(11)
1 + 3а(Т )Т
В выражении для электронной плотности присутствует коэффициент объёмного расширения, равный 3 а, исходя из того, что в формуле для изменения объёма ДУ при изменении температуры ДТ:
V + А V = (Ь + ДЬ)3 = = Ь + за АТ + 3а2Ь3ДТ2 + а3 Ь3ДТ,
(12)
последнеми двумя слагаемыми, в виду их малости, можно пренебречь.
В табл. 1 приведены значения исходных параметров при Т=0К.
Т а б л и ц а 1
Значения структурных параметров и спинов переходных металлов.
Б с, а.е. d, а.е. п, а.е.
Си ГЦК - 4,8305 2,4153 0,0252
Бе ОЦК 1,11 3,8303 1,9151 0,0503
Со ГПУ о,86 7,7302 4,07 0,0754
N1 ГЦК 0,30 4,7089 2,35 0,0270
Стоит отметить, что в диапазоне температур Т=0-700К устойчива а-модифи-кация кобальта с ГПУ-структурой, в то время как для Т>700К устойчива в-модификация с ГЦК-структурой [5].
Выражение (10) даёт для исследуемых материалов зависимость а(Т), представленную в табл. 2.
Т а б л и ц а 2
Изменение коэффициента линейного термического расширения с температурой а (7)1о6, К-1
т,к Со № Ге Си
іоо 8,78 9,05 8,52 12,23
200 10,44 10,76 10,13 14,54
300 11,56 11,91 11,21 16,10
400 12,42 12,80 12,05 17,30
500 13,13 13,53 12,74 18,29
В соответствии с методом функционала плотности величина вариационного параметра в находится из требования минимальности полной межфазной энергии системы, т. е.
^да(в, В) ^
дв
= 0.
(13)
Решение уравнения (13) задает значения параметра втп как функцию величины зазора и структурных параметров для подложки и покрытия. Итогом решения данной вариационной задачи является полная межфазная энергия системы: о(Ршт(.0), D). Энергия адсорбции представляет собой работу, необходимую для удаления адсорбированной частицы с поверхности подложки может быть записана в виде:
Еа<Ь = ^К>-СТ(2В)/^ (Т) . (14)
Поверхностная концентрация паэ(Т) является функцией параметра ©, определяющего степень заполнения адатомами поверхности подложки,
©=па (т )/п,і(т),
(15)
+
гс -
где пэ1(Т) характеризует поверхностную концентрацию атомов нереконструиро-ванной подложки.
В данной работе полагается, что в случае активированной адсорбции адато-мы, располагаясь на подложке, вызывают реконструкцию только ее первого приповерхностного слоя. В результате, в пленке и в приповерхностном слое подложки образуется смесь ионов субстрата и адсор-бата, которая по своим свойствам напоминает бинарный сплав двух металлов. Обозначим индексом р относительную долю атомов адсорбата в пленке. Заряд ионов для бинарного сплава пленки определим как:
7 = р7а + (1 - р)г*, (16)
где индекс а характеризует параметры адсорбата, индекс э - субстрата. Электронную плотность пленки можно представить в виде:
Пз(®,р) = г3п*3(т)/и, (17)
где Яз определяется выражением (16), пэз
- поверхностная концентрация атомов в пленке, Н - толщина пленки, определяемая выражением:
И = рйа (Т) + (1 - р)й* (Т), (18)
где с1а(Т), Сэ(Т) - расстояния между наиболее плотноупакованными плоскостями в кристаллах адсорбата и субстрата. Аналогичные формулы использовались и для описания бинарного сплава в приповерхностном слое подложки:
п2 ( Р ')= 72П2 / 1 , (19)
I = р йа (Т) + (1 - р'М(Т), (20)
где Я2 определяется выражением (16), пэ2(Т) - поверхностная концентрация атомов в слое, р' - относительная доля атомов адсорбата в приповерхностном слое, I
- толщина слоя «перемешивания».
Предполагая равномерное распределение адатомов в приповерхностном слое подложки с повторением ее симметрии, параметр заполнения & можно выразить через параметры бинарных растворов р и Р’:
0 = pq + р' q', (21)
где параметры ц и ц’ определяются выражениями:
q = п*3 (Т) / п*1 (Т), ^ = п* 2 (Т) / п*1 (Т), (22)
и характеризуют степень заполнения атомами пленки и приповерхностного слоя, соответственно. Параметры &, ц и ц’ связаны друг с другом соотношением:
0 = q + q'+1. (23)
Степень заполнения & адатомами поверхности подложки задается при этом таким образом, чтобы для 0=1 число ада-томов равнялось числу атомов в поверхностной грани подложки. Параметры С2 и Сз, задающие минимальные расстояния между атомами в пленке и приповерхностном слое, определяются через параметр С1 соотношениями:
с2 = с (Т)л[q;, сз = с (Т)Тд . (24)
Поверхностные концентрации пэ1 и пэ2 являются функциями этих параметров и зависят от симметрии грани подложки, на которой происходит адсорбция.
Критическая температура магнитного упорядочения моноатомной пленки зависит от параметра покрытия ©, т. е. Т^(©), и отличается от критической температуры магнетика в объеме Тсу. Она может быть вычислена следующим образом: г „г
Тс8 (0) = 0ТсУ-^, (25)
2Ьи1к
где Zsurf - число ближайших соседей в ферромагнитной пленке, а zъulk - в объемном ферромагнетике.
На основе теоретической методики, изложенной выше, были исследованы процессы адсорбции магнитных ионов металлов на парамагнитной медной подложке с ориентацией поверхностной грани (110).
На рис. 1 представлены графики рассчитанной энергии адсорбции с учетом теплового расширения для субмонослой-ных пленок Ре, Со, N1 на грани Си(110) в зависимости от параметра бинарного раствора р, задающего относительную долю атомов адсорбата в пленке, для значения 0=0.5. Результаты расчета, проведенные без учета теплового расширения, обозначены пунктирной линией.
Рассматривая энергию адсорбции как функцию параметра р для различных температурных режимов, можно увидеть, что в случае плёнок Ре и Со её максимум достигается при р=1, что характеризует энергетическую невыгодность заместительной адсорбции. В случае адсорбции ионов N1 наблюдается иная картина: по-
ложение максимума энергии адсорбции p=0, что указывает на энергетическую выгодность для Ni/Cu(110) адсорбционной структуры типа «сандвича», когда атомы адсорба-та почти полностью вытесняют атомы субстрата из первого приповерхностного слоя. Эффекты теплового расширения качественно не меняют адсорбциионную картину, наблюдаемую в [І], а приводят к увеличению энергии адсорбции максимально на
Fe/Cu
Со/Си
4 % - Ре (Т = 500 К), 5 % - Со (Т = 400 К) и
1 % - N1 (Т = 200 К), что хорошо заметно на рис. 2. В случае плёнок Ре и Со влияние эффектов теплового расширения на энергию адсорбции /\Eads максимально для полного замещения атомами адсорбата атомов подложки (при р=0). Для N1 же вклад тепловых эффектов постоянен для любой адсорбционной структуры.
№/Си
Рис. 1. Зависимость энергии адсорбции Еааз от параметра р для систем Ге/Си(110), №/Си(110) и
ШСи(110) при Э=0.5
4 Е <i fls =iEad 5' П1). Дпя О = 0 5
, прир=С
-FtGv
- CljVli -WWClt
' в
Рис. 2. Зависимость изменения энергии адсорбции с учетом теплового расширения от параметров покрытия а) р и б) © при максимальной температуре (ТГе = 500К, ТСо = 400К, Тм = 200К )
Таким образом, в данной работе показано, что учет эффектов теплового расширения в субмонослойных пленках из ферромагнитных материалов приводит к небольшому количественному изменению энергии адсорбции в диапазоне температур, когда наибольший вклад вносят эффекты спонтанной намагниченности.
ЛИТЕРАТУРА
[1] Прудников В. В., Мамонова М. В., Климов С. П.,
Морозов Н. С. Исследование влияния эффектов заместительной адсорбции магнитных ионов на процесс образования субмонослойных ферромагнитных пленок на металлических поверхностях // Вестник Ом. ун-та. 2009. № 2.
[2] Вонсовский С.В. Магнетизм. М.: Наука, 1971. С.
1032.
[3] Вакилов А. Н., Мамонова М. В., Матвеев А. В.,
Прудников В. В. Теоретические модели и методы в физике поверхности. Омск : ОмГУ, 2005. 212 с.
[4] Рябухин А. Г. Линейный коэффициент термиче-
ского расширения металлов // Известия Челябинского научного центра УрО РАН. 1999. 3. С. 31-40.
[5] Киттель Ч. Введение в физику твёрдого тела.
М. : Наука, 1978. С. 33-45.