Научная статья на тему 'Формирование пучка ионов в современном поверхностно-ионизационном источнике масс-спектрометра МТИ-350Т для изотопного анализа урана и трансурановых элементов в твердой фазе'

Формирование пучка ионов в современном поверхностно-ионизационном источнике масс-спектрометра МТИ-350Т для изотопного анализа урана и трансурановых элементов в твердой фазе Текст научной статьи по специальности «Математика»

CC BY
78
12
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.
Журнал
Научное приборостроение
ВАК
RSCI
Область наук
Ключевые слова
МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ / ИЗОТОПЫ / ПОВЕРХНОСТНАЯ ИОНИЗАЦИЯ / ЭМИТТАНС / ИСТОЧНИК ИОНОВ / MASS-SPECTROMETRY / ISOTOPES / SURFACE THERMOIONIZATION / EMITTANCE / ION SOURCE

Аннотация научной статьи по математике, автор научной работы — Галль Л. Н., Бердников А. С., Хасин Ю. И., Галль Николай Ростиславович

Статья посвящена формированию ионных пучков в источнике ионов с поверхностной ионизацией. Для получения высоких аналитических параметров работы прибора необходимо, с одной стороны, обеспечить максимальное использования ионов пробы, образующихся на поверхности ленты-ионизатора, а с другой -сформировать ионный пучок, в максимальной степени удовлетворяющий аксептансу масс-анализатора. Показано, что сквозное компьютерное моделирование от области образования ионов до места их регистрации позволяет обеспечить требуемое согласование

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

Похожие темы научных работ по математике , автор научной работы — Галль Л. Н., Бердников А. С., Хасин Ю. И., Галль Николай Ростиславович

iНе можете найти то, что вам нужно? Попробуйте сервис подбора литературы.
i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.

ION BEAM FORMATION IN THE MODERN SURFACE THERMO-IONIZED SOURCE OF MASS-SPECTROMETER MTI-350T FOR ISOTOPIC ANALYSIS OF U AND TRANSURANIUMS IN SOLID STATE

The paper concerns ion beam formation in the surface thermo-ionized source. To get high analytical features, it is necessary, on the one hand, to get the maximal utilization of sample ions originating on the surface of the ionizer ribbon; on the other hand, to form the ion beam fitting well the mass-analyzer acceptance. The throughout computer simulation from the place of ion origination down to the region of their registration, allows to provide the necessary matching.

Текст научной работы на тему «Формирование пучка ионов в современном поверхностно-ионизационном источнике масс-спектрометра МТИ-350Т для изотопного анализа урана и трансурановых элементов в твердой фазе»

ISSN 0868-5886

НАУЧНОЕ ПРИБОРОСТРОЕНИЕ, 2010, том 20, № 3, с. 9-13 ПРИБОРНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ И МЕТОДИКИ

УДК 543.422; 543.9

© Л. Н. Галль, А. С. Бердников, Ю. И. Хасин, Н. Р. Галль

ФОРМИРОВАНИЕ ПУЧКА ИОНОВ В СОВРЕМЕННОМ ПОВЕРХНОСТНО-ИОНИЗАЦИОННОМ ИСТОЧНИКЕ МАСС-СПЕКТРОМЕТРА МТИ-350Т ДЛЯ ИЗОТОПНОГО АНАЛИЗА УРАНА И ТРАНСУРАНОВЫХ ЭЛЕМЕНТОВ В ТВЕРДОЙ ФАЗЕ

Статья посвящена формированию ионных пучков в источнике ионов с поверхностной ионизацией. Для получения высоких аналитических параметров работы прибора необходимо, с одной стороны, обеспечить максимальное использования ионов пробы, образующихся на поверхности ленты-ионизатора, а с другой — сформировать ионный пучок, в максимальной степени удовлетворяющий аксептансу масс-анализатора. Показано, что сквозное компьютерное моделирование от области образования ионов до места их регистрации позволяет обеспечить требуемое согласование

Кл. сл.: масс-спектрометрия, изотопы, поверхностная ионизация, эмиттанс, источник ионов

ВВЕДЕНИЕ

Истощение источников углеводородного топлива делает ядерную энергетику перспективным источником обеспечения энергией будущей экономики. Масс-спектрометрический анализ является наиболее достоверным методом определения изотопного состава ядерного топлива [1]. Поверхностная термоионизация, несмотря на ряд присущих ей недостатков, является важнейшим методом получения ионов для изотопного анализа в твердой фазе, особенно для систем с изотопными соотношениями, далекими от природных.

Целью настоящей работы является рассмотрение принципов формирования пучков ионов в источниках с поверхностной ионизацией (ПИ), ориентированных на использование в современных масс-спектрометрах.

УСТРОЙСТВО ПИ-ИСТОЧНИКА ИОНОВ.

ОПИСАНИЕ НАЧАЛЬНОГО ЭМИТТАНСА

В современных приборах используются двух-или трехленточные источники, обеспечивающие высокую точность и воспроизводимость анализов [2]. Для обеспечения возможности работать не только с ураном, но и с высокоактивными трансурановыми элементами, ленты испарителя и ионизатора помещают в закрытый блок, который обеспечивает их точное позиционирование по отношению к ионно-оптическим элементам источника. Обычный размер лент 10^0.8^0.02 мм, ленты расположены на расстоянии 1 мм рабочими сторона-

ми друг к другу и торцами к ионно-оптической системе

Со стороны ионно-оптической системы (ИОС) источника ионов блок лент всегда закрыт экраном, находящимся под потенциалом ионизатора. Отбор ионов, образовавшихся на ионизаторе, производится электрическим полем, создаваемым вытягивающим электродом, и проникающим через щель экрана. Электронно-оптические свойства блока ионизации являются определяющими в работе как источника ионов, так и масс-спектрометра в целом, и выбор, и оптимизация ионно-оптической системы источника ионов целиком подчинены возможностям узла ионизации. Задача ионно-оптической системы — это, с одной стороны, максимальный отбор ионов, образовавшихся при ионизации, а с другой — формирование из этих ионов ионного пучка, эмиттанс (фазовый объем пучка) которого был бы в максимальной степени согласован с аксептансом (фазовым объемом) масс-анализатора, для совместной работы с которым этот источник предназначен [3].

Экран блока ионизации выполняет двоякую функцию: с одной стороны этот экран — деталь узла ионизации, он участвует в физических процессах формирования ионов и защищает другие узлы ионно-оптической системы от запыления высокоактивной пробой, а с другой и более важной стороны, этот экран является первым электродом ионно-оптической системы, во многом определяющей эмиттанс вытягиваемого пучка.

В качестве объекта моделирования использовался ионный источник масс-спектрометра МТИ-

350Т, разработанного для нужд российской атомной промышленности в 2008 г. [4]. По ширине область возникновения ионов ограничивается шириной ленты-ионизатора, по высоте она задавалась равной 4 и 1 мм. В первом случае предполагалось, что проба, нанесенная на ленту, существенно расплывается вдоль нее в процессе испарения, во втором случае этот эффект считался несущественным. Имеющиеся на сегодня экспериментальные данные и теоретические оценки носят противоречивый характер и, видимо, зависят от состава пробы и условий ее нанесения. Начальные углы вылета ионов разыгрывались в диапазоне от -90° до +90°, начальные энергии предполагались тепловыми и задавались в пределах 0.1-0.3 эВ. Ширина выходной щели источника составляла 0.2 мм.

МОДЕЛИРОВАНИЕ ПУЧКА

Для проведения процедуры моделирования источника ионов в ИАП РАН разработан программный комплекс, включающий в себя программу SIMION 3D, версия 7.0, и специализированные интерфейсные модули GENIO и SIMDRAW. Модуль GENIO — это модуль генерации начальных параметров моделируемого ионного пучка, модуль SIMDRAW — модуль анализа параметров сформированного пучка и графического, и количественного представления результатов в терминах теории транспортировки (фазового пространства) в виде двумерных эмиттансов. Эти модули были разработаны ранее для моделирования ИОС газового источника ионов масс-спектрометра МТИ-350Г с ионизацией электронным ударом, и их

эффективность экспериментально подтверждена параметрами, полученными на этом приборе. Комплекс разработанных программ решает проблему создания рабочей процедуры согласования источника ионов с ИОС анализатора статического магнитного масс-спектрометра, что является непременным условием получения предельно высоких параметров, и в первую очередь — чувствительности приборов. Особенность расчетов твердофазных систем состоит в том, что при моделировании источника ионов с двухленточным блоком ионизации асимметрия системы приводит к увеличению объема моделирования вдвое, требует соответственно большей оперативной памяти ЭВМ и увеличивает продолжительность процедуры расчета поля. Файл начальных условий, создаваемый модулем GENIO, позволял моделировать образование нескольких тысяч (как правило, пяти-шести тысяч) ионов на поверхности ленточки-ионизатора. В качестве начальных условий бралась область, описание которой содержится в предыдущем разделе настоящей статьи.

В Приложении на рис. П1-П3 приведены результаты моделирования, приведенные к плоскости входа в магнитное поле. При описанных выше условиях через выходную щель источника ионов проходит 80.5 % образовавшихся ионов, но лишь 40.1 % оказываются в пределах границ аксептанса анализатора, т. е. достигают приемника масс-спектрометра.

Результаты моделирования хорошо демонстрируют характерные особенности формирования ионного пучка в двухленточном блоке с поверхностной ионизацией, а именно существенную несимметрию распределения интенсивности ионов

Рис. 1. Трехмерная модель ИОС источника ионов масс-спектрометра МТИ-350Т; часть электродов вырезана для наглядности

ФОРМИРОВАНИЕ ПУЧКА ИОНОВ... 11

по угловой координате в горизонтальной плоскости. Моделирование показало сильную зависимость формируемого пучка от расстояния между лентами и увеличение коэффициента использования пробы (КИП) при сближении лент испарителя и ионизатора. Однако реализовать очень малые расстояния (меньше чем 0.8 мм) технически не представляется возможным, также как и уменьшить расстояние между торцами лент и экраном до 0.5 мм. Более применимым на практике может быть результат, полученный при моделировании, из которого следует, что КИП может быть повышен при подаче на ленту-испаритель небольшого тянущего напряжения по отношению к ионизатору. Это, конечно, усложняет блоки питания лент, но может быть весьма полезным при анализе сверхмалых проб

Следует заметить, что все ионы, "не вписавшиеся" в аксептанс масс-анализатора, должны быть отколлимированы до входа в него, ибо именно они определяют ухудшение изотопической чувствительности анализа в целом. Пространственная модель ионно-оптической системы источника ионов, формирующего эмиттанс ионного пучка, представленный на рис. П1-П3, изображена на рис. 1. На ней видно расположение кол-лимирующих диафрагм, ограничивающих эмит-танс ионного пучка.

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ПРОВЕРКА

В работе [4] представлены экспериментальные данные, относящиеся к работе масс-спектрометра МТИ-350Т, оснащенного описанным здесь источником ионов. Рассчитанный нами КИП в ионно-

оптической части прибора, составил ~40 %. В то же время величина КИП, измеренная экспериментально на ионах Cs+, составила (36 ±5) %. Использование цезия как элемента, испытывающего 100 % ионизацию на ленте-ионизаторе, позволяет измерять лишь ионно-оптическую часть КИП, игнорируя ту часть, которая определяется эффективностью поверхностной ионизации и зависит от потенциала ионизации атомов пробы и работы выхода эмиттера. С другой стороны, эффект "перепы-ления" с ленты на ленту полностью учитывается данными измерениями. Как видно, имеет место очень хорошее совпадение расчета и эксперимента, что даже удивительно с учетом достаточно грубого описания начальных условий ионообразо-вания на ленте, использованного в настоящем моделировании.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ И ВЫВОДЫ

Проведено моделирование процесса формирования ионного пучка в источнике с поверхностной ионизацией масс-спектрометра МТИ-350Т для изотопного анализа урана и трансуранов в твердой фазе. Показано, что современные методы моделирования позволяют с высокой точностью воспроизводить поведение ионов как в ионно-оптических системах фокусировки и транспортировки пучка, так и в области возникновения ионов на поверхности твердотельного эмиттера, а также обеспечивают хорошее согласование параметров пучка и аксептанса масс-анализатора.

ПРИЛОЖЕНИЕ

Рис. П1. Диаграмма эмиттансов ионного пучка в вертикальной (Y/B) и горизонтальной (Z/A) плоскостях. Расстояние между ленточками 0.8 мм. Прямыми линиями обозначен аксептанс масс-анализатора МТИ-350Т

Рис. П2. Распределения интенсивности ионов в пучке по углу (слева) и по координате (сверху) в горизонтальной плоскости; расстояние между ленточками 0.8 мм

Рис. П3. Распределения интенсивности ионов в пучке по углу (слева) и по координате (сверху) в вертикальной плоскости; расстояние между ленточками 0.8 мм

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

1. Сысоев А.А., Артаев В.Б., Кащеев В.В. Изотопная масс-спектрометрия. М.: Энергоатомиздат, 1993. 288 с.

2. Галль Л.Н., Саченко В.Д., Соколов Б.Н. и др. Принципы и методы расчета ионно-оптических схем масс-спектрометров для изотопно-химического анализа // Научная аппаратура. 1988. Т. 3, № 4. С. 3-17.

3. Бердников А.С., Галль Л.Н., Хасин Ю.И. Методика согласования источника ионов статического масс-спектрометра с масс-анализатором // Научное приборостроение. 2001. Т. 11, № 4. С. 28-34.

4. Штань А.С. и др. Масс-спектрометр для прецизионного определения изотопного состава урана,

плутония и смешанного топлива в твердой фазе. (МТИ-350Т) // Вопросы атомной науки и техники. Серия: физика и автоматизация. 2008. Т. 63. С. 138.

Институт аналитического приборостроения РАН, Санкт-Петербург (Галль Л.Н., Бердников А.С., Хасин Ю.И.)

Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе РАН, Санкт-Петербург (Галль Н.Р.)

Контакты: Галль Николай Ростиславович, [email protected]

Материал поступил в редакцию 29.04.2010.

ФОРМИРОВАНИЕ ПУЧКА ИОНОВ.

13

ION BEAM FORMATION IN THE MODERN SURFACE THERMO-IONIZED SOURCE OF MASS-SPECTROMETER MTI-350T FOR ISOTOPIC ANALYSIS OF U AND TRANSURANIUMS

IN SOLID STATE

*

L. N. Gall, A. S. Berdnikov, Yu. I. Hasin, N. R. Gall

Institute for Analytical Instrumentation RAS, Saint-Petersburg

A.F. Ioffe Physical-Technical Institute RAS, Saint-Petersburg

The paper concerns ion beam formation in the surface thermo-ionized source. To get high analytical features, it is necessary, on the one hand, to get the maximal utilization of sample ions originating on the surface of the ionizer ribbon; on the other hand, to form the ion beam fitting well the mass-analyzer acceptance. The throughout computer simulation from the place of ion origination down to the region of their registration, allows to provide the necessary matching.

Keywords: mass-spectrometry, isotopes, surface thermoionization, emittance, ion source

i Надоели баннеры? Вы всегда можете отключить рекламу.