CC BY
17
УДК 681.326:719.513
В.И. ХАХАНОВ, А.В. СУШАНОВ
АЛГЕБРОЛОГИЧЕСКИЙ МЕТОД ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ДЕФЕКТОВ SOC
Предлагаются методы диагностирования цифровых систем на кристалле на основе использования дизъюнктивной нормальной формы, представляющей собой матрицу покрытия дефектов тестовыми последовательностями. Метод ориентирован на встроенное сервисное обслуживание функциональностей представленными IP модулями. Рассматривается стратегия выбора контрольных точек, которая направлена на поиск кратного дефекта в функциональности системы на кристалле в реальном масштабе времени.
Введение
Для реализации вычислительных систем, ориентированных на прием, передачу и преобразование информации, существует два основных направления: 1) использование универсальных процессоров, дорогостоящих и имеющих невысокую производительность при реализации специальных функциональностей; 2) чисто аппаратное решение, которое эффективно при массовом потреблении заданной функциональности на рынке электронных технологий с присущим ему недостатком - отсутствие гибкости при любой корректировке или модернизации функциональности информационного преобразователя [1-3]. Устранить недостатки обоих подходов с сохранением их преимуществ есть задача разработки специализированных программно-аппаратных цифровых систем на кристаллах (SOC), обладающих следующими свойствами:
1) ориентация на эффективное (параллельное или конвейерное) решение ограниченного класса задач;
2) минимальность системы команд, обеспечивающая высокую производительность при реализации специальных функциональностей;
3) простота вычислительных ядер, минимизирующих аппаратную сложность всей системы и быстродействие выполнения команд процессора;
4) однородность компонентов, обеспечивающая параллельное управление вычислений от единого процессора;
5) гибкость кода описания проекта для тестирования, верификации и внесения изменений;
6) высокий уровень структуризации функциональных IP (Intellectual Property) модулей, позволяющий использовать для их раздельного диагностирования и верификации стандарты тестопригодного проектирования и граничного сканирования;
7) соизмеримость периода разработки аппаратных модулей с временными затратами создания программных продуктов с аналогичной функциональностью, что является дополнительным доводом в пользу проектирования специализированных систем на кристаллах путем синтеза и анализа цифровых проектов.
При разработке цифровой системы на кристалле приходится решать задачи, которые обеспечили бы проверку наличия неисправностей в схеме. Существует достаточно много способов анализа дефектов, но сложность состоит в быстром поиске нужного терма среди возможного сочетания дефектов, представленного в виде дизъюнктивной нормальной формы (ДНФ)[4] . Эффективное решение этой проблемы обеспечит уменьшение временных и материальных затрат при проектировании SOC[6].
1. Суть метода половинного деления
Метод половинного деления используется для существенного уменьшения области подозреваемых дефектов. Для уменьшения множества дефектов необходимо получить дополнительную информацию для ДНФ дефектов. Для этого используется процедура зондирования внутренних точек контроля, с помощью которой определяется состояние внутренней линии в целях исключения дефектов или их повреждения. Стратегия выбора контрольной точки ориентирована на примерно половинное деление подозреваемого мно-
жества, исключая на каждом шаге половину дефектов путём моделирования - минимизации исходной ДНФ.
Суть метода половинного деления на ДНФ, которая представляет собой все возможные сочетания дефектов в цифровой схеме, можно продемонстрировать на следующем примере: F = Fl F2 Fз V F2 FзF4 V Fl FзF5F6.
Выбор первой контрольной точки, например, Б5 =0 превращает функцию в уменьшенное выражение, в то время как F5 =1 не уменьшает размерность ДНФ:
Б5 = 0 ^ (F = Fl F2 Fз V F2 FзF4 V Fl FзF5F6) = Fl F2 Fз V F2 FзF4, F = \ F5 = 1 ^ (F = Fl F2 Fз V F2 FзF4 V Fl Fз F5 F6) = F = Fl F2 Fз V
V F2FзF4 V FlFзF5F6 .
Это подтверждает присутствие дефекта на линии. Алгоритм выбора точек контроля необходимо ориентировать на максимальное уменьшение исходной ДНФ. Критерием выбора точки контроля может служить взвешенность мощностей ДНФ, полученных после моделирования обоих состояний проверки.
Для выбора контрольной точки используются следующие утверждения:
Утверждение 1. ЕслиFi присутствует во всех термах ДНФ, то данный дефект существует в схеме обязательно, а данную линию не следует тестировать. Иначе, если предположить, что она равна нулю, все термы обращаются в нуль, что противоречит условию существования ненулевых значений вектора экспериментальной проверки V.
Утверждение 2. В схеме присутствует только одно сочетание дефектов, которое определено одним термом ДНФ. Если найдено одно подтверждённое решение в виде терма ДНФ, то остальные термы следует исключить из рассмотрения путём их обращения в нуль.
Утверждение 3. Вероятность того, что рассматриваемый терм является дефектом, меньше, если в нём содержится элемент, который встречается реже в других термах.
Поэтому задача точек контроля для минимизации сводится к выполнению двух альтернативных стратегий:
1. Рассмотрение переменных в термах минимальной длины для подтверждения всех дефектов в терме путём их зондирования.
2. Проверка таких переменных, которые обращают в нуль не более половины термов ДНФ.
В случае существования функции (Б = FlF2Fз V F2 FзF4 V FlFзF5F6), имеющей два терма минимальной длины 3, каждый из которых содержит одинаковую переменную Б 2, а также переменную Бз, присутствующую во всех термах, лучшим решением будет проверка Б4. При положительном значении Б4 проверка не уменьшает множество дефектов, а при отрицательном оставшиеся два терма подлежат зондированию (исключён терм
ГБ4 = 0 ^ Б1Б2Бз V
|б4 = 1 ^ Б2Бз V Б2БзБ4 V БзБ5Бб .
Проверка Бб даёт следующие результаты послезондового моделирования двух вариантов функций:
1>б = 0 ^ Б1Б2Бз V Б2БзБ4;
Ьб = 1 ^ Б1Б2Бз V Б2БзБ4 V Б1БзБ5Бб .
Далее после Бб должна последовать проверка , которая убирает все термы, кроме одного, определяющего решение:
|>1 = о ^ Б2 БзБ4;
= 1 ^ Б 2 Бз V Б2 БзБ4 V БзБ5Бб .
Для поиска в схеме кратного дефекта необходимо пройти несколько этапов зондирования контрольных точек, количество которых зависит от числа используемых переменных, количества термов, входящих в ДНФ, элементов, из которых состоит терм. Для более быстрого поиска кратного дефекта можно параллельно зондировать в нескольких контрольных точках, но при этом каждая из них должна отвечать принятым утверждениям. В результате можно сформулировать четвёртое утверждение, которое способствует поиску дефектного терма.
Утверждение 4. Одновременно можно зондировать несколько термов в различных контрольных точках.
Критерием окончания процедуры диагностирования является получение одного терма ДНФ, которое идентифицирует дефекты в функциональности цифровой системы на кристалле.
Далее предлагаются примеры выполнения интерактивной процедуры диагностирования на основе анализа ДНФ с использованием последовательного и параллельного зондирования контрольных точек. Последовательный метод предусматривает одновременное исследование ДНФ в единственной точке контроля, в то время как параллельный позволяет выбор нескольких элементов термов на одном этапе зондирования.
Модель процесса диагностирования представлена на рис.1.
1. Начало процедуры зондирования.
2. Составление таблицы покрытия для данной ДНФ дефектов.
3. определение количества переменных N, весовые коэффициенты которых минимальны и равны между собой, при этом не содержащиеся в заказанном терме и не присутствующие во всех термах одновременно.
4. Проверка равности N нулю.
5. Исследуемая ДНФ не содержит дефектов.
6. Зондирование в выбранных контрольных точках и упрощение ДНФ.
7. Определение количества термов в полученной ДНФ M.
8. Сравнение M с единицей.
9. Подтверждение наличия дефекта в ДНФ.
2.Описание к программе «Defect Analyzer»
Программа «Defect Analyzer» является приложением под OS Windows, написана на языке C++ в среде программирования Borland C++ Builder 2006, содержит 659 операторов, 604 строки.
«Defect Analyzer» позволяет проиллюстрировать последовательный и параллельный методы диагностирования цифровых систем на кристалле на основе использования дизъюнктивной нормальной формы, представляющей собой матрицу покрытия дефектов тестовыми последовательностями.
В качестве входных данных в программе применяется таблица покрытия, которая построена при тестировании схемы на наличие дефектов. Таблица отображает уровни сигналов, которые подаются на вход, а также наличие неисправности в данном тесте, на что указывает значение результирующего вектора У(рис. 2.).
Для уточнения диагноза при тестировании следует уточнить эксперимент (индикатор «анализ выходов»), введя в рассмотрение значение сигналов на выходе схемы. После получения ДНФ дефектов следует указать анализируемый терм, который и будет проверяться на дефективность.
10. Конец процедуры зондирования.
Рис. 1. Модель процесса
Затем пошагово проводится процедура зондирования в определённой контрольной точке, что отображается для каждого из методов в виде изменяющейся таблицы покрытия, а также упрощения исходной ДНФ(Рис. з).
В качестве результата выдаются подтверждение или опровержение наличия дефекта в выбранном терме, а также количество затраченных этапов для каждого из методов.
При 10 переменных, где 20% из них содержат сигнал высокого уровня, и наличии неисправности в 20% экспериментов программа позволяет обрабатывать до 80 термов исходной КНФ.
При предварительном диагностировании выходов схемы допустимое количество термов исходной КНФ значительно увеличивается.
Рис. 2. Ввод таблицы покрытия для дальнейшего диагностирования
Рис. з. Пошаговое проведение процедуры зондирования
Ниже представлен график зависимости количества диагностируемых термов (20% ошибочны, среднее количество элементов в каждом из них, которые имеют сигнал высокого уровня, 20% из всего количества входов в схеме, участвующих в тестировании, которое равняется количеству термов) от времени, которое необходимо программе для получения ДНФ дефектов из исходной таблицы покрытия.
Время, необходимое для преобразования КНФ в ДНФ, зависит от показателя к, который зависит от начальной таблицы покрытия:
к = к1 Р((^)!) + к2—^пт, 1 =1 2(п - 2)!
где N, - количество единичных переменных; п - количество термов исходной КНФ; т -количество элементов, участвующих в эксперименте; к1, к2 - некоторые коэффициенты, зависящие от содержимого таблицы покрытия.
3. Примеры использования методов диагностирования
Пример 1. F = FlF2F4F5 V FзF5F7Flo V FlFзF8F9 V FlF2F7Flo V F5F6F9Flo .
В устройстве существует кратная неисправность Б2Б7Р10 . 1. Последовательное зондирование термов в контрольных точках. Выполняется подсчёт весов каждой переменной, входящей в ДНФ:
Р,1 Р1 Р2 Р3 Р4 Р5 Р6 Р7 Р8 Р9 Р10
W(Fl) 3 2 2 1 3 1 2 1 2 3
Вероятность присутствия в схеме дефектов связана, зависит от их весовых коэффициентов. В целях получения единственного решения в виде терма ДНФ следует выбрать в качестве точек контроля переменные, имеющие минимальный вес, которые будут обращать термы в нулевые составляющие. Следовательно, первыми тремя точками контроля будут F4,F6,F8. После каждого шага выполняется перерасчёт весовых коэффициентов, который даёт возможность скорректировать последующие шаги:
F = F2F4F5 V FзF5F7Flo V FlFзF8F9 V FlF2F7Flo V F5F6F9Flo)(F4=o) =
= FзF5F7Flo V FlFзF8F9 V FlF2F7Flo V F5F6F9Flo Весовые коэффициенты переменных, которые входили в зондируемый терм, уменьшились на единицу:
Р,2 Р1 Р2 Р3 Р4 Р5 Р6 Р7 Р8 Р9 Р10
W(Fi) 2 1 2 - 2 1 2 1 2 3
Последующее зондирование термов приводит к получению одного терма ДНФ:
F - (F3F5F7F10 v FiF3F8F9 v FiF2F7F10 v F5F6F9Fio)(F6=0) = F3F5F7F10 v F1F3F8F9 v FiF2F7F10
Fi3 F1 F2 F3 F4 F5 F6 F7 F8 F9 F10
W(Fi) 2 1 2 - 1 - 2 1 1 2
F = (F3F5F7F10 v F1F3F8F9 v F1F2F7F1O)(F8-0) = F3F5F7F10 v F1F2F7F10 ,
Fi4 F1 F2 F3 F4 F5 F6 F7 F8 F9 F10
W(Fi) 1 1 1 - 1 - 2 - - 2
Здесь установлен факт наличия в схеме дефектов (Р7,Р10), которые уже не подлежат зондированию. Проверка дефекта Р3 даёт следующий результат:
Р = №3Р5Р7Рю V Р1Р2Р7Р10)(Р3=0) = Р1Р2Р7Р10
Таким образом, в результате выполнения четырёх зондирований, представленных линиями ^РбР8 Р3), был получен точный диагноз - в схеме присутствует кратный дефект: Р = Р1Р2 Р7Р10 .
2. Параллельное зондирование нескольких контрольных точек
При параллельном зондировании нескольких термов в разных контрольных точках удобно составить таблицу покрытия для данной функции:
Р = Р4Р5 V Р3Р5Р7Рю V Р1Р3Р8Р9 V Р7Р10 V Р5РбР9Р10
F1 F2 F3 F4 F5 F6 F7 F8 F9 F10
F1F 2 F4F5 1 1 1 1
F3F5F7F10 1 1 1 1
F1F3F8 F9 1 1 1 1
F1F2 F7F10 1 1 1 1
F5F6F9F10 1 1 1 1
Контрольные точкиР4,Р6,Р8 не соответствуют утверждению 1, имеют наименьшие весовые коэффициенты, а значит можно одновременно зондировать несколько термов, в состав которых входят элементы Р4,Рб,Р8 . Исходная таблица примет вид
F1 F2 F3 F5 F7 F10
F3F5F7F10 1 1 1 1
F1F 2 F7F10 1 1 1 1
В качестве критических точек для дальнейшего зондирования могут быть F3 или F5. Выбрав точку F3 , получим единственный терм F1F2 F7F10 , который идентифицирует дефекты в функциональности цифровой системы.
В результате упрощения исходной ДНФ удалось показать, что в схеме присутствует кратный дефект F1F2 F7F10 , но при использовании метода параллельного зондирования это удалось сделать за меньшее количество шагов. Однако не всегда данный метод приводит к более быстрому результату подтверждения неисправности, чем при последовательном зондировании, что видно из приведенного ниже примера.
Пример 2.
F = F1F5 v F3F6 v F4F5 v F1F2F5 v F2F7F8 v F2F8F10 v F2F3F8F9 v v F2 F6F7F10 v F4F5F8 F9 v F4F6F7F8
В схеме существует кратный дефект F4F5.
1. Последовательное зондирование термов в контрольных точках:
Fi1 F1 F2 F3 F4 F5 F6 F7 F8 F9 F10
W(Fi) 2 5 2 3 4 3 3 5 2 2
В данном примере минимальный вес элементов Fi равен двум. Для доказательства кратного дефекта F4F5 в качестве первой контрольной точки следует взять Fi, который является элементом самого короткого терма:
F = (FiF5 v F3F6 v F4F5 v FiF2F5 v F2F7F8 v F2FsF10 v F2F3F8F9 v
v F2F6F7F10 v F4F5F8F9 v F4F6F7F8)(F1=0) = F3F6 v F4F5 v F2F7F8 v
v F2F8Fi0 v F2F3F8F9 v F2F6F7F10 v F4F5F8F9 v F4F6F7F8
Fi2 Fi F2 F3 F4 F5 F6 F7 F8 F9 F10
W(Fi) - 4 2 3 2 3 3 5 2 2
F = (F3F6 v F4F5 v F2F7F8 v F2F8F10 v F2F3F8F9 v F2F6F7F10 v v F4F5F8F9 v F4F6F7F8)(F10=0) = F3F6 v F4F5 v F2F7F8 v F2F3F8F9 v v F4F5F8F9 v F4F6F7F8
Fi3 F1 F2 F3 F4 F5 F6 F7 F8 F9 F10
W(Fi) - 2 2 3 2 2 2 4 2 -
F = (F3F6 v F4F5 v F2F7F8 v F2F3F8F9 v F4F5F8F9 v F4F6F7F8)(F7=0) = F3F6 v F4F5 v F2F3F8F9 v F4F5F8F9
Fi4 F1 F2 F3 F4 F5 F6 F7 F8 F9 F10
W(Fi) - 1 2 2 2 1 - 2 2 -
F = (F3F6 v F4F5 v F2F3F8F9 v F4F5F8F9)(F6=0) = F4F5 v F2 F3F8 F9 v F4F5F8 F9
Ff
W(Fi)
F1
F2
1
F3
1
F4
F5
F6
F7
F8
F9
F10
F = (F4F5 v F2F3F8F9 v F4F5F8F9)(F2=0) = F4F5 v F4F5F8F9, . 6
FiL
W(Fi)
F1
F2
F3
F4
F5
F6
F7
F8
1
F9
1
F10
Б = (Б4Б5 V Б4Б5Б8Б9)(Б8=0) = Б4Б5.
В схеме присутствует кратный дефект Б = Р4Б5 . 2. Параллельное зондирование нескольких термов.
F1 F2 F3 F4 F5 F6 F7 F8 F9 F10
F1F5 1 1
F3F6 1 1
F4F5 1 1
F1F2 F5 1 1 1
F2F7F8 1 1 1
F2 F8 F10 1 1 1
F2F3F8F9 1 1 1 1
F2 F6F7F10 1 1 1 1
F4F5F8 F9 1 1 1 1
F4F6F7F8 1 1 1 1
В данном примере одновременно в качестве контрольных точек можно выбрать Р1 РэР9Рю . В результате таблица покрытия примет вид:
F2 F4 F5 F6 F7 F8
F4F5 1 1
F2 F7F8 1 1 1
F4 F6F7F8 1 1 1 1
Во втором шаге одновременно следует выбрать контрольными точками F2 ,F6. В результате зондирования в этих трёх точках исходная ДНФ примет вид F = F4F5, чем подтверждается, что в схеме существует кратный дефект, которым является единственный терм упрощённой ДНФ.
Пример 3.
F = F1F5F8 F11v F1F4F10 F11v F1F2 F5F12 v F3 F4 F5 F8 v F5F8 F10 F11v
v F2F3F4F11 v F1F6F7F11 v F8F9F10F12 v F4F7F9F10
а) В устройстве существует кратная неисправность F5F8 F10 F11.
б) В устройстве существует кратная неисправность F1F6F7F11.
В данном примере при использовании параллельного метода зондирования ни на одном из шагов невозможно выбрать более одной контрольной точки, поэтому результаты на каждом шагу при параллельном и последовательном методах будут одинаковы. Необходимо поочерёдно в качестве контрольных точек использовать
F6 = 0, F7 = 0, F9 = 0, F12 = 0, F2 = 0,F3 = 0,F4 = 0, F1 = 0.
В данном примере, независимо от того, каким способом происходил поиск кратного дефекта F = F5F8F10F11, это произошло в одинаковое количество шагов (8 шагов). Это обусловлено тем, что на любом из шагов зондирования не находилось более одной таких переменных, которые бы имели одинаковый наименьший весовой коэффициент.
В задании б) в устройстве не может существовать кратная неисправность F1F6F7F11, так как это единственный терм в ДНФ:
F = F1F5F8 F11v F1F4F10 F11v F1F2 F5F12 v F3 F4 F5 F8 v F5F8 F10 F11v
v F2 F3F4F11 v F1F6F7F11 v F8 F9F10 F12 v F4F7F9F10,
который имеет наименьший весовой коэффициент, и если в качестве контрольной точки выбрать F6, то при F6=1 все термы исходной ДНФ сохраняются, а при F6=0 в нуль обращается «заказываемый» терм F1F6F7F11, что противоречит утверждению 2.
Пример 4. F = F1F3 F4 v F2 F3 F6 v F1F5 F6 v F2 F4 F5.
В схеме существует кратный дефект F2 F4F5 .
Используя интерактивную процедуру зондирования контрольных точек, независимо от того, каким из рассмотренных методов производить исследования, в два этапа удаётся подтвердить, что термF2 F4F5 является кратным дефектом.
Пример 5. F = F1F2 F3 v F2 F4 F5 F7 v F3 F4 F8 v F1F3 F8 F9 v F5 F6 F10 v F8 F10 .
В схеме существует кратный дефект F5 F6 F10 .
1. Последовательное зондирование термов в контрольных точках.
Последовательно выбирая в качестве контрольных точек элементы F7, F9, F1, F3, F8 , в
пять этапов зондирования исходной ДНФ дефектов подтвердилась дефективность терма F5 F6 F10.
2. Параллельное зондирование нескольких термов.
При анализе ДНФ дефектов
F - F1F2 F3 v F2 F4 F5 F7 v F3 F4 F8 v F1F3 F8 F9 v F5 F6 F10 v F8 F10 поиск кратного дефекта можно произвести за 3 шага процедуры зондирования контрольных точек.
Ниже представлена таблица, содержащая данные о количестве элементов, термов для каждого эксперимента, а также количества необходимых этапов зондирования.
Характеристики исследуемой ДНФ дефектов
№ Кол-во Кол-во Кол-во этапов зондирования
эксперимента элементов термов последовательное параллельное
l l0 5 4 2
2 l0 l0 6 2
З l2 9 8 8
4 6 4 2 2
5 l0 6 5 3
Для сравнения эффективности использования различных методов поиска дефективного терма ниже приведен график (рис.4) зависимости количества необходимых зондирований от значения оценки по Квайну Q (по результатам рассмотренных примеров).
1о 8 6 4 2
16
25 25 41
Значение Q
45
о
Рис. 4. Зависимость количества зондирований от Q
Из графика видно, что интерактивный метод зондирования параллельно в нескольких точках приводит к меньшему количеству шагов процедуры анализа ДНФ дефектов. Следовательно, на поиск дефекта в схеме уходит меньший промежуток времени, что уменьшает материальные затраты при проектировании цифровых систем на кристалле.
4.Выводы
Метод половинного деления основан на использовании интерактивной процедуры зондирования внутренних точек контроля, благодаря которым определяются состояния внутренних линий в целях исключения дефектов или их подтверждения. Рассмотренные методы обеспечивают проверку на существование дефекта. Метод параллельного зондирования позволяет выбирать несколько контрольных точек, что обеспечивает более быстрый поиск дефектного терма. Эффективность использования этого метода можно увидеть из приведенного графика. Однако при некоторых исходных ДНФ параллельное зондирование не имеет преимуществ над последовательным (Пример 3, а)). Это обусловлено отсутствием на любом из шагов проверки (исключением может быть последний этап зондирования) различных элементов с одинаковыми весовыми коэффициентами.
Результатом обоих методов анализа исходной ДНФ является получение единственного терма ДНФ, который и является сочетанием дефектов, или исключение «заказанного» терма из возможных дефективных.
Научная новизна полученных результатов. Новый матричный метод диагностирования дефектов функциональностей в SoC, который характеризуется использованием дизъюнктивной нормальной формы таблицы покрытия неисправностей, дает возможность получать полные и минимальные сочетания кратных неисправностей на основе применения процедур мультизондирования.
Список литературы: 1. Zorian Yervant, Marinissen Erik Jan, and Dey Sujit. Testing Embedded Core-Based System Chips // Proceedings IEEE International Test Conference (ITC).- Washington.- October l998.
P. 130-143. 2. Zorian Yervant. What is Infrastructure IP? // IEEE Design & Test of Computers.- May-June 2002. P. 5-7. 3. Zorian Yervant. Advances in Infrastructure IP // IEEE Design & Test of Computers. - May-June 2003. 49 p. 4. Novak O., Gramatova E., Ubar R., and collective. Handbook of testing electronic systems. Czech Technical University Publishing House.2005. 395 p. 5. Abramovisi, M.,BreyerM.A. andFriedman A.D. Digital systems testing and testable design. Computer Science Press 1998.652p. 6. Хаханов В.И., Хаханова И.В. VHDL + Verilog=CTHre3 за минуты. Харьков. ХНУРЭ. 2006. 264 с. 7. Автоматизация диагностирования электронных устройств/ Ю.В. Малышенко и др./Под ред.В.П.Чипулиса. М.: Энергоатомиздат, 1986. 216 с. 8. УбарР.Р. Анализ диагностических тестов для комбинационных цифровых схем методом обратного прослеживания неисправностей // Автоматика и телемеханика. 1977. №8. C.168-176. 9. Hahanov V.I., Babich АУ., Hyduke S.M. Test Generation and Fault Simulation Methods on the Basis of Cubic Algebra for Digital Devices. Proceedings of the Euromicro Symposium on Digital Systems Design DSD 2001. Warsaw, Poland. September, 4-6, 2001. P. 228-235. 10. Хаханов В.И., ХакХ.М. Джахирул, Масуд М.Д. Мехеди. Модели анализа неисправностей цифровых систем на основе FPGA, CPLD // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. 2001. № 2. С. 3-11. 11. Levendel Y.H., MenonP.R. Comparison offault simulation methods - Treatment ofunknown signal values // Journal of digital systems. Vol. 4. 1980. P. 443-459. 12.ХахановВ.И., Сысенко И.Ю., КолесниковК.В. Дедуктивно-параллельный метод моделирования неисправностей на реконфигурируемых моделях цифровых систем // Радиоэлектроника и информатика. 2002. № 1. С. 98-105.
Поступила в редколлегию 05.03.2008
Хаханов Владимир Иванович, декан факультета КИУ ХНУРЭ, д-р техн. наук, профессор кафедры АПВТ ХНУРЭ. Научные интересы: техническая диагностика цифровых систем, сетей и программных продуктов. Увлечения: баскетбол, футбол, горные лыжи. Адрес: Украина, 61166, Харьков, пр. Ленина, 14, тел. 70-21-326. E-mail: [email protected]. Сушанов Алексей Владимирович, студент факультета компьютерной инженерии и управления ХНУРЭ. Научные интересы: диагностика цифровых устройств, программирование. Увлечения: музыка. Адрес: Украина, 61000, Харьков, ул. Ощепкова, 16/2, кв.7, тел. +380933251277, e-mail: [email protected].
УДК 681.326:719.513
С.В. МИХТОНЮК, Р.С. ХВАН, В.И. ОБРИЗАН
АРХИТЕКТУРНАЯ МОДЕЛЬ МАСШТАБИРУЕМОЙ СИСТЕМЫ АСИНХРОННОЙ ОБРАБОТКИ БОЛЬШИХ ОБЪЕМОВ ДАННЫХ
Предлагается типовое масштабируемое архитектурное решение для систем визуализации и модификации больших объемов данных с использованием метода асинхронного выполнения программируемых команд и рефлексивного подхода к построению структуры объектов.
1. Введение
В последнее время количество информации, необходимой человеку для работы, стремительно растет. Это влечет за собой повышение спроса на программы, которые позволяют представлять эту информацию в удобном для пользователя виде, легко ее анализировать и модифицировать. Источником данных может выступать локальная база данных, либо база на корпоративном сервере, или же информация может собираться из сети Интернет. Несмотря на схожесть таких приложений, нельзя создать единое программное решение для всех из них, ведь каждая предметная область имеет свою специфику и правила обработки данных. Идя по пути единого решения, разработчик рискует получить продукт, перегруженный различными настройками и параметрами, предназначенными для его адаптации к конкретной задаче, а также сложный со стороны реализации и поддержки.
Лучшим подходом в данном случае будет создание единого типового решения для построения программ такого вида, придерживаясь которого программисты смогут легко создавать эффективные продукты, специализированные на решении конкретной задачи. Специализация каждого программного продукта обеспечит минимальные затраты на его реализацию и интеграцию.
